[實用新型]一種光譜相位干涉裝置及超短光脈沖電場直接重構系統

有效

• 申請號: 201320353456.7
• 申請日: 2013-06-19
• 公開（公告）號: CN203432688U
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發明（設計）人: 徐世祥;馬影坤;蔡懿;曾選科;李景鎮
• 申請（專利權）人: 深圳大學
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 陳世洪

技術領域

本實用新型屬于光電技術領域，尤其涉及一種光譜相位干涉裝置及超短光脈沖電場直接重構系統。

背景技術

超短激光脈沖目前已廣泛應用于物理、化學、材料、生物醫學、國防、工業加工等各個領域。自八十年代末至今，人們對超短光脈沖的研究一直就沒有停止過。其中包括更短、更強的超短脈沖的產生和放大技術、超短脈沖的診斷技術以及不斷開拓各種新的應用領域。在各種超短脈沖測量技術中，自相關測量是一種最為常用的技術，其特點為簡單、易用。但它只能近似地測量脈沖寬度而不能測量脈沖的形狀和相位。頻率分辨光快門技術能測量光脈沖的形狀、寬度和相位，結構也相對簡單，不過它復雜的數據處理限制了它的工作效率和實時診斷能力。利用傳統的光譜剪切干涉的SPIDER技術也能測量光脈沖的寬度、形狀和相位。它的優點是：測量在光譜域進行，不需快響應接收器；裝置內不含任何移動元件，穩定可靠；遞代算法簡單，有利于高重復率實時檢測。其不足之處為對于光譜形狀比較復雜，或光譜較窄的超短脈沖，測量的精度就比較差。

實用新型內容

本實用新型實施例的目的在于提供一種用于超短光脈沖電場直接重構的光譜相位干涉裝置，旨在提高現有光譜相位干涉裝置測量精度。

本實用新型實施例是這樣實現的，一種光譜相位干涉裝置，包括：

用于獲取啁啾脈沖及特性相同的第一待測子脈沖和第二待測子脈沖，并使所述啁啾脈沖分別作用于第一待測子脈沖和第二待測子脈沖，以產生第一和頻脈沖和第二和頻脈沖的和頻晶體；

用于將所述第一和頻脈沖分為第一和頻子脈沖和第二和頻子脈沖、所述第二和頻脈沖分為第三和頻子脈沖和第四和頻子脈沖的第三分束器；

用于使所述第一和頻子脈沖與第三和頻子脈沖疊加，以產生第一光譜干涉圖樣的第一相移機構；

用于使所述第二和頻子脈沖與第四和頻子脈沖疊加，以產生第二光譜干涉圖樣的第二相移機構；

用于獲取所述第一光譜干涉圖樣和第二光譜干涉圖樣的光譜儀；以及

用于對所述第一光譜干涉圖樣和第二光譜干涉圖樣進行處理，以獲得所述第一待測子脈沖或第二待測子脈沖特性的處理器；

其中，所述第一相移機構和第二相移機構分別具有使第一和頻子脈沖與第二和頻子脈沖或者使第三和頻子脈沖與第四和頻子脈沖間產生π或-π相移的第二波片和第三波片。

本實用新型實施例的另一目的在于提供一種采用上述光譜相位干涉裝置的超短光脈沖電場直接重構系統。

本實用新型實施例在現有SPIDER裝置基礎上引進二步相移技術，這樣可以方便地獲得兩幅干涉條紋互補的光譜干涉圖樣，在數據處理上不再需要用時間窗濾去直流量，從而消除了直流量與交流量的時間交疊對測量結果的影響，從而提升了測量精度和測量范圍。因此，本光譜相位干涉裝置廣泛應用于各種超短光脈沖電場直接重構系統，尤適用于測量光譜形狀比較復雜或光譜較窄的超短脈沖時間/光譜特性。

附圖說明

圖1是本實用新型實施例一提供的光譜相位干涉裝置的光路結構圖；

圖2是線偏振光通過半波片后，光束偏振面受到調制發生偏轉的示意圖；

圖3是偏振無關的無色散光束分束器的結構示意圖；

圖4是本實用新型實施例二提供的光譜相位干涉裝置的光路結構圖；以及

圖5是本實用新型實施例三提供的光譜相位干涉裝置的光路結構圖。

具體實施方式

為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

本實用新型實施例在現有SPIDER裝置基礎上引進二步相移技術，這樣可以方便地獲得兩幅干涉條紋互補的光譜干涉圖樣，在數據處理上不再需要用時間窗濾去直流量，從而消除了直流量與交流量的時間交疊對測量結果的影響，提升了測量精度。因此，本光譜相位干涉裝置廣泛應用于各種超短光脈沖電場直接重構系統，尤適用于測量光譜形狀比較復雜或光譜較窄的超短脈沖時間/光譜特性。

下面列舉若干實施例對本實用新型的實現進行詳細描述。

實施例一