[實用新型]一種降低量子效應光電探測陣列暗電流的微光測試系統

有效

• 申請號: 201320345695.8
• 申請日: 2013-06-17
• 公開（公告）號: CN203364963U
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 劉曉艷;郭方敏
• 申請（專利權）人: 華東師范大學
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 上海藍迪專利事務所 31215
• 代理人: 徐筱梅;張翔

1.一種降低量子效應光電探測陣列暗電流的微光測試系統，包括將量子效應光電探測陣列（1）與讀出電路（3）對接，讀出電路（3）分別與時序控制電路（2）和數據采集系統（4）連接，其特征在于所述量子效應光電探測陣列（1）的輸入端接入可變電阻器（5）；所述讀出電路（3）通過時序控制電路（2）的控制轉換，將量子效應光電探測陣列（1）采集的光信號有序讀出后輸入數據采集系統（4），由數據采集系統（4）對光電器件進行性能的測試分析；所述可變電阻器（5）為分流和降低量子效應光電探測陣列（1）流向讀出電路（3）的暗電流，增大讀出電路（3）光信號的讀出范圍和有效讀出量子效應光電探測陣列（1）的微光信號。

2.根據權利要求1所述降低量子效應光電探測陣列暗電流的微光測試系統，其特征在于所述讀出電路（3）為CTIA-CDS結構的增益可調電路。