[實用新型]二代身份證指紋采集識別設備標準測試卡

有效

• 申請號: 201320343853.6
• 申請日: 2013-06-17
• 公開（公告）號: CN203325004U
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 侯鴻川;林暉;任福云;孟凡輝;何蘭
• 申請（專利權）人: 公安部第一研究所;北京中盾安全技術開發公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京中海智圣知識產權代理有限公司 11282
• 代理人: 曾永珠

技術領域

本實用新型涉及二代身份證指紋采集識別設備標準測試卡,屬于指紋采集識別技術領域。

背景技術

目前，傳統的指紋采集識別設備有多種分類方法，依據傳感器工作原理的不同，可分為光學式和半導體式兩類，光學式又有可見光和紅外光不同波長之分;依據采集方式的不同，可分為按壓式、刮擦式和滾動式三類，依據構成方式的不同，可分為獨立式和嵌入式兩類。目前，上述指紋采集識別設備長期以來在行業內沒有標準規范的統一檢測方法。

由于分辨率、畸變率和有效采集窗口尺寸等數據是指紋采集識別設備幾個最重要的圖像技術指標，需要認真檢測，而各種指紋采集識別設備的成像原理不同，目前，還沒有一個在不同原理的指紋采集識別設備上都能良好成像的測試卡可用于測試，也就沒有形成一套完整的可方便操作的即適用于光學式又適用于半導體式不同原理指紋采集識別設備的統一檢測方法。目前，由于各設備廠家或檢測部門普遍是自行定義測試方法，或僅對光學式指紋采集識別設備的上述指標進行檢測，而對半導體式指紋采集識別設備通常只是直接引用傳感器廠家給出的傳感器技術指標,并不對指紋采集識別設備整機專門進行完整測試。因此，迄今業內沒有一套成熟的可普遍適用于光學式和半導體式不同原理指紋采集識別設備的統一檢測方法，更沒有業內公認的通用行業標準或國家標準，光學式指紋采集識別設備和半導體式指紋采集識別設備的測試數據因方法不同也就沒有直接可比性，這也是目前本技術領域所面臨的重要的急待解決的技術難題。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種能夠克服上述技術問題的二代身份證指紋采集識別設備標準測試卡，本實用新型在可見光和紅外光不同波長的光學式指紋采集識別設備上以及半導體式指紋采集識別設備上都可以清晰成像，可用于進行指紋圖像技術指標檢測。在此標準測試卡基礎上，本實用新型建立了一套比較科學完整的身份證指紋采集識別設備技術指標檢測方法，在業內第一次實現了采用統一的標準化的檢測方法對二代居民身份證使用的光學式和半導體式不同成像原理的平面指紋采集識別設備進行測試,使光學式和半導體式不同成像原理的平面指紋采集識別設備在相同檢測方法下的技術指標更具有科學性和可比性。

本實用新型的檢測方法是與標準測試卡結合使用的并在檢測方法中對不同原理指紋采集識別設備的測試方法進行了規范，創造性的實現了采用統一的標準化的檢測方法對光學式和半導體式不同成像原理的平面指紋采集識別設備進行測試,使不同成像原理指紋采集識別設備在相同檢測方法下得出的技術指標更具有科學性和可比性。

本實用新型的二代身份證指紋采集識別設備標準測試卡的整體外形是邊長為19x13.5mm的長方形板，包括正面與反面。所述邊長為19x13.5mm的長方形板內又設置了一個邊長為17.93x12.75mm的長方形，所述邊長為19x13.5mm的長方形板的中心為一個邊長為10mm的小正方形，所述邊長為10mm的小正方形再平均分成四個邊長為5mm的小正方形。

本實用新型的標準測試卡為雙面制作，本實用新型的標準測試卡的正面與反面的圖形相同，本實用新型的標準測試卡的線寬為0.05mm，本實用新型的標準測試卡的材料采用單晶半導體材料，所述單晶半導體材料為單晶鍺或單晶硅。

本實用新型的標準測試卡不僅能在半導體式指紋采集識別設備上成像，也能在不同波長的光學式指紋采集識別設備上成像，是現有平面指紋采集識別設備檢測必不可少的標準量具。

本實用新型的優點是能有效地對半導體式指紋采集識別設備進行分辨率等圖像技術指標測試，同時也能夠在不同波長的光學式指紋采集識別設備上良好成像并可用于光學式指紋采集識別設備圖像指標的測試，本實用新型將在國家計量部門進行標定作為標準量具，本實用新型的科學規范的檢測方法將被業內采納并寫入了行業標準，本實用新型的標準測試卡及其配套的檢測方法既可在光學式指紋采集識別設備上成像測試，又可在半導體式指紋采集識別設備上成像測試，本實用新型能夠將不同成像原理的光學式和半導體式指紋采集識別設備的檢測方法科學規范地統一起來，使在相同檢測方法下得出的技術指標更具有合理性和可比性并開創性的提升了對二代居民身份證指紋采集識別設備的評估水平和檢測現狀。

附圖說明

圖1是本實用新型所述二代身份證指紋采集識別設備標準測試卡的結構示意圖。

具體實施方式