[實用新型]基于溫度控制光波導的光學性能監控器有效
| 申請號: | 201320340272.7 | 申請日: | 2013-06-14 |
| 公開(公告)號: | CN203299665U | 公開(公告)日: | 2013-11-20 |
| 發明(設計)人: | 張汛;李兆明 | 申請(專利權)人: | 深圳新飛通光電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G05D23/20 | 分類號: | G05D23/20;G05D23/30;H04B10/07 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市高*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 溫度 控制 波導 光學 性能 監控器 | ||
1.一種基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,包含外殼、溫控系統、光纖陣列、陣列波導光柵芯片、光探測器陣列和電路板,所述光纖陣列與陣列波導光柵芯片的輸入端耦合對準后固定,所述光探測器陣列與陣列波導光柵芯片的輸出端耦合對準后固定,所述溫控系統包含溫度控制器和溫度探測器,所述陣列波導光柵芯片安裝在所述溫度控制器上,所述光探測器陣列的輸出電極、溫度控制器的電極和溫度探測器與電路板電連接,所述電路板讀取溫度探測器的溫度信息和光探測器陣列的光電流,并輸出溫度控制信號給溫度控制器。
2.根據權利要求1所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,所述溫控系統控制所述陣列波導光柵芯片的溫度變化范圍為0.4nm/k,其中k為所述陣列波導光柵芯片輸出波長的溫度相關系數。
3.根據權利要求1所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,所述溫度控制器為熱電制冷器。
4.根據權利要求1所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,所述溫度控制器為電阻絲和片狀陶瓷。
5.根據權利要求4所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,所述片狀陶瓷和陣列波導光柵芯片之間通過導熱油填充,周邊用軟膠粘接固定。
6.根據權利要求1所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,所述光纖陣列與陣列波導光柵芯片的輸入端耦合對準后通過膠水粘接固定,所述光探測器陣列與陣列波導光柵芯片的輸出端耦合對準后通過膠水粘接固定。
7.根據權利要求1所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,所述溫度探測器為熱敏電阻。
8.根據權利要求1所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,所述溫度探測器為電阻溫度探測器。
9.根據權利要求1所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,還包含薄膜濾波器和光探測器,所述薄膜濾波器和光探測器與陣列波導光柵芯片的工作通道之外的一個通道耦合對準并固定。
10.根據權利要求1所述的基于溫度控制光波導的光學性能監控器,其特征在于,還包含固定波長探測器,所述固定波長探測器與陣列波導光柵芯片的工作通道之外的一個通道通過光纖連接,所述固定波長探測器包含自聚焦透鏡和光探測器,所述自聚焦透鏡與光探測器耦合的端面鍍有濾光薄膜。
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