[實用新型]一種基于熒光薄膜的反射接收的紫外硅基探測器有效

申請號：	201320331931.0	申請日：	2013-06-09
公開（公告）號：	CN203312316U	公開（公告）日：	2013-11-27
發明（設計）人：	何梁;陶春先;張大偉;盧忠榮;洪瑞金;黃元申	申請（專利權）人：	上海理工大學
主分類號：	H01L31/0232	分類號：	H01L31/0232;H01L31/101;H01L31/0216
代理公司：	上海申匯專利代理有限公司 31001	代理人：	吳寶根
地址：	200093 ***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種基于熒光薄膜反射接收紫外探測器
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【權利要求書】：

1.一種基于熒光薄膜的反射接收的紫外硅基探測器，其特征在于，包括石英透鏡、變頻反射鏡、可見光增透透鏡和硅基探測器，四個部件都安裝在內部涂黑的密封裝置中，石英透鏡安裝至密封裝置的入射窗口處，外部光源入射通過石英透鏡后，入射到鍍有熒光薄膜的變頻反射鏡上，光經變頻反射鏡反射到反射鏡的下方的可見光增透透鏡，經可見光增透透鏡聚焦到水平安裝在密封裝置底部的硅基探測器上。

2.根據權利要求1所述基于熒光薄膜的反射接收的紫外硅基探測器，其特征在于，所述石英透鏡表面鍍有一層紫外增透薄膜。

3.根據權利要求1所述基于熒光薄膜的反射接收的紫外硅基探測器，其特征在于，所述變頻反射鏡為平面或凹面，反射面鍍有一層用于紫外發光的變頻膜，反射鏡平面與石英透鏡射出的入射光線成傾斜角，傾斜角可調。

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