[實(shí)用新型]測(cè)井儀器及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320323026.0
• 申請(qǐng)日: 2013-06-05
• 公開（公告）號(hào): CN203285434U
• 公開（公告）日: 2013-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王軍杰;段軍亞;高輝;翟合娟;夏濟(jì)根
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十二研究所
• 主分類號(hào): E21B49/00
• 分類號(hào): E21B49/00
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 吳貴明;張永明

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及探測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，具體而言，涉及一種測(cè)井儀器及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著油田勘探開發(fā)程度的不斷深入，薄層以及薄互層已經(jīng)成為期待被開發(fā)的油氣儲(chǔ)集層。由于光電吸收截面與地層物質(zhì)的原子序數(shù)Z密切相關(guān)，固可用來研究地層的巖石性質(zhì)（Pe值），現(xiàn)有的檢測(cè)巖性密度的儀器主要是利用同位素伽馬源向地層輻射伽馬射線，再利用與源相距一定距離的探測(cè)器來測(cè)量經(jīng)過地層散射和吸收后的伽馬射線強(qiáng)度。圖1為離源某一距離處探測(cè)器測(cè)量到的伽瑪射線能譜，縱向?yàn)橛?jì)數(shù)率，橫向?yàn)槟芰繂挝唬瑱M向可以包括60-600KeV的能量計(jì)數(shù)。如圖1所示，在能量為150keV左右出現(xiàn)峰值，能量大于150keV的區(qū)域B中伽瑪射線只受康-吳散射的影響，探測(cè)到的伽瑪射線強(qiáng)度隨能量增加而降低，其散射截面與地層體積密度密切相關(guān)，固可用來測(cè)量巖石的密度值（Den值）；而在能量小于150keV的區(qū)域A中，因受光電效應(yīng)的影響，探測(cè)到的伽瑪射線強(qiáng)度隨能量減少而急劇下降。

然而，現(xiàn)有的單探測(cè)器密度測(cè)井儀器和現(xiàn)有的雙源距巖性密度測(cè)井儀器均存在明顯的缺陷，即垂向分辨率差，測(cè)量精度不高，計(jì)數(shù)率統(tǒng)計(jì)起伏較大，這兩種測(cè)井儀器受泥餅和圍巖影響大，從而導(dǎo)致測(cè)得的地層光電吸收截面指數(shù)不準(zhǔn)確等，從而無法獲取準(zhǔn)確地巖性密度，不能滿足當(dāng)前對(duì)薄層的勘探開發(fā)需要。

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中由于對(duì)薄層測(cè)量精度不高，從而無法獲取準(zhǔn)確的地層光電吸收截面指數(shù)的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

實(shí)用新型內(nèi)容

針對(duì)相關(guān)技術(shù)由于對(duì)薄層測(cè)量精度不高，從而無法獲取準(zhǔn)確的地層光電吸收截面指數(shù)的問題，目前尚未提出有效的解決方案，為此，本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種測(cè)井儀器及系統(tǒng)，以解決上述問題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種測(cè)井儀器，該測(cè)井儀器包括：射線發(fā)射器，用于發(fā)射第一射線；探測(cè)裝置包括：第一探測(cè)器、第二探測(cè)器以及第三探測(cè)器，其中，第一探測(cè)器、第二探測(cè)器以及第三探測(cè)器用于獲取探測(cè)區(qū)域內(nèi)的第一射線的射線信號(hào)；測(cè)量電路，與探測(cè)裝置連接，用于根據(jù)射線信號(hào)獲取計(jì)數(shù)率和譜數(shù)據(jù)；其中，第一探測(cè)器與射線發(fā)射器的距離為第一距離，第二探測(cè)器與射線發(fā)射器的距離為第二距離，第三探測(cè)器與射線發(fā)射器的距離為第三距離，第一距離、第二距離以及第三距離各不相同。

進(jìn)一步地，測(cè)井儀器還包括：直流電源，與測(cè)量電路連接，用于為測(cè)量電路提供工作電壓。

進(jìn)一步地，探測(cè)裝置以及測(cè)量電路設(shè)置在殼體內(nèi)，第一探測(cè)器、第二探測(cè)器以及第三探測(cè)器沿遠(yuǎn)離射線發(fā)射器的方向依次設(shè)置在殼體內(nèi)；測(cè)量電路設(shè)置在第一探測(cè)器與第二探測(cè)器之間，和/或測(cè)量電路設(shè)置在第二探測(cè)器與第三探測(cè)器之間。

進(jìn)一步地，殼體上開設(shè)有與第一探測(cè)器對(duì)應(yīng)的第一窗口、與第二探測(cè)器對(duì)應(yīng)的第二窗口以及與第三探測(cè)器對(duì)應(yīng)的第三窗口；殼體上還開設(shè)有與射線發(fā)射器對(duì)應(yīng)的第四窗口。

進(jìn)一步地，第二窗口和第三窗口上附有金屬鈹。

進(jìn)一步地，射線發(fā)射器與第一探測(cè)器之間設(shè)置有屏蔽體。

進(jìn)一步地，測(cè)量電路包括：高壓電路，分別與第一探測(cè)器、第二探測(cè)器以及第三探測(cè)器連接，用于為第一探測(cè)器、第二探測(cè)器以及第三探測(cè)器提供工作電壓；信號(hào)處理器，分別與第一探測(cè)器、第二探測(cè)器以及第三探測(cè)器連接，用于轉(zhuǎn)換射線信號(hào)獲取脈沖信號(hào)；譜分析電路，與信號(hào)處理器連接，用于對(duì)脈沖信號(hào)進(jìn)行采樣處理和能譜分析獲取計(jì)數(shù)率和譜數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步地，殼體為承壓鋼筒。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種測(cè)井系統(tǒng)，該測(cè)井系統(tǒng)包括測(cè)井儀器。

通過本實(shí)用新型，由于第一探測(cè)器、第二探測(cè)器以及第三探測(cè)器與射線發(fā)射器的距離各不相同，三個(gè)探測(cè)器的垂直分辨率不同，則三個(gè)探測(cè)器受地層厚度影響也不同，從而可以使用三個(gè)探測(cè)器獲取到的探測(cè)區(qū)域內(nèi)的不同的射線信號(hào)對(duì)地層的圍巖進(jìn)行補(bǔ)償，從而使得測(cè)量電路處理射線信號(hào)時(shí)對(duì)薄層進(jìn)行校正，獲取更為準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和譜數(shù)據(jù)，提高了對(duì)薄層的測(cè)量精度，從而可以準(zhǔn)確獲取地層的密度值以及光電吸收截面系數(shù)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中由于對(duì)薄層測(cè)量精度不高，從而無法獲取準(zhǔn)確的地層光電吸收截面指數(shù)的問題，實(shí)現(xiàn)了提高對(duì)薄層的測(cè)量精度的效果，從而準(zhǔn)確獲取地層光電吸收截面指數(shù)。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1是現(xiàn)有技術(shù)探測(cè)器測(cè)量到的伽瑪射線能譜的示意圖；

圖2是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的測(cè)井儀器的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是根據(jù)圖2所示實(shí)施例的測(cè)井儀器的結(jié)構(gòu)示意圖；