[實用新型]一種用于限制電流過沖的裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320311774.7
• 申請日: 2013-05-31
• 公開（公告）號: CN203386098U
• 公開（公告）日: 2014-01-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: C·科佐里諾;蒂莫西·艾倫·迪伊薇特
• 申請（專利權(quán)）人: 快捷半導(dǎo)體（蘇州）有限公司;快捷半導(dǎo)體公司
• 主分類號: G05F1/56
• 分類號: G05F1/56
• 代理公司: 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11270
• 代理人: 武晨燕;張穎玲

1.一種用于限制電流過沖的裝置，包括：?

放大器，包括輸入端和輸出端，所述輸出端被配置為提供輸出電壓；?

檢測晶體管，包括連接到所述放大器的所述輸出端處的檢測柵極，且被配置為使用第一輸入電壓提供檢測電壓；?

吸收晶體管，包括連接到所述放大器的所述輸出端處的吸收柵極，所述吸收晶體管連接到電子元件上且被配置為使用第二輸入電壓提供吸收電壓；?

開關(guān)反饋電路，被配置為通過基于所述第二輸入電壓選擇性地將所述檢測電壓和所述吸收電壓連接到所述放大器的所述輸入端處，利用所述放大器的所述輸出電壓對所述檢測柵極和所述吸收柵極進行預(yù)處理；?

其中，所述第二輸入電壓被配置為選擇性地被啟動，所述第二輸入電壓被配置為當(dāng)所述第二輸入電壓被啟動時，從初始電壓變化到最終電壓；以及?

其中，所述開關(guān)反饋電路被配置為選擇性地將所述檢測電壓連接到所述放大器的所述輸入端處，以限制所述電子元件中的電流過沖。?

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述吸收晶體管的大小大于所述檢測晶體管的大小。?

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其中，所述檢測晶體管連接到所第一電阻器上且所述吸收晶體管連接到第二電阻器上；?

其中，所述吸收晶體管的大小與所述檢測晶體管的大小以一比例成正比；?

其中，所述第二電阻器的大小與所述第一電阻器的大小以所述比例成反比。?

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中的任一項所述的裝置，其中，所述吸收電壓基于所述電子元件上的電壓降。?

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其中，所述電子元件中的電流過沖基于超過所述電子元件的合規(guī)電壓的所述元件上的電壓降。?

6.根據(jù)權(quán)利要求1-3中的任一項所述的裝置，其中，所述開關(guān)反饋電路包括：?

比較器，被配置為產(chǎn)生輸出且連接到所述吸收晶體管和所述電子元件之間；以及?

開關(guān)，連接到所述比較器和所述檢測晶體管及所述吸收晶體管之間，所述開關(guān)被配置為選擇性地將所述檢測晶體管和所述吸收晶體管中的至少一個進行連接，以基于或至少部分基于所述比較器的輸出將所述檢測電壓和所述吸收電壓中的至少一個提供給所述放大器的所述輸入端。?

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其中，所述開關(guān)為二元開關(guān)，所述二元開關(guān)被配置為在任何時候選擇性地將所述檢測電壓和所述吸收晶體管中的僅一個連接到所述放大器輸入端處。?

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其中，所述比較器被配置為將基于所述吸收電壓的比較電壓和參考電壓進行比較以產(chǎn)生所述輸出電壓。?

9.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的裝置，包括電壓源，所述電壓源配置為施加所述第二輸入電壓。?

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其中，所述電壓源被配置為將所述第二輸入電壓的幅度從所述初始電壓增大到所述最終電壓。?