[實(shí)用新型]一種回路電阻測(cè)試儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320292805.9
• 申請(qǐng)日: 2013-05-16
• 公開（公告）號(hào): CN203241476U
• 公開（公告）日: 2013-10-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 畢青春
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 揚(yáng)州華電電氣有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于電力電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種回路電阻測(cè)試儀。

背景技術(shù)

目前，在電力系統(tǒng)中應(yīng)用的回路電阻測(cè)試儀普遍采用常規(guī)的雙臂直流電橋測(cè)量變壓器線圈的直流電阻、高壓斷路器的接觸電阻，這類電橋的測(cè)試電流為毫安級(jí)，在測(cè)量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路的接觸電阻時(shí)，容易受到油膜和動(dòng)靜觸點(diǎn)間氧化層的影響，使測(cè)量的電阻值偏大若干倍。

現(xiàn)有技術(shù)提供的回路電阻測(cè)試儀，容易受環(huán)境、磁場(chǎng)的干擾，穩(wěn)定性差，測(cè)量結(jié)果偏差大，準(zhǔn)確度較低，測(cè)量操作過程復(fù)雜。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于提供一種回路電阻測(cè)試儀，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)提供的回路電阻測(cè)試儀，容易受環(huán)境、磁場(chǎng)的干擾，穩(wěn)定性差，測(cè)量結(jié)果偏差大，準(zhǔn)確度較低，測(cè)量操作過程復(fù)雜的問題。

本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種回路電阻測(cè)試儀，該回路電阻測(cè)試儀包括：

用于采集被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)，并對(duì)所采集的被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)進(jìn)行輸出的信號(hào)采樣模塊；

與所述信號(hào)采樣模塊相連接，用于接收所述信號(hào)采樣模塊所采集的被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)，對(duì)所接收的被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)進(jìn)行分析處理，輸出被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果信號(hào)的微處理器模塊；

與所述微處理器模塊相連接，用于接收所述微處理器模塊輸出的被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果信號(hào)，并對(duì)被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)碼顯示的數(shù)碼顯示屏模塊；

與所述微處理器模塊相連接，用于向所述微處理器模塊輸入控制指令的鍵盤控制模塊。

進(jìn)一步，所述信號(hào)采樣模塊包括：

用于采集被測(cè)回路的電流信號(hào)的電流采樣模塊；

用于采集被測(cè)回路的電阻信號(hào)的電阻采樣模塊。

進(jìn)一步，所述鍵盤控制模塊上設(shè)置有七個(gè)輕觸按鍵。

進(jìn)一步，所述微處理器模塊自帶時(shí)鐘，可存儲(chǔ)20組測(cè)試數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步，所述數(shù)碼顯示屏模塊采用15位數(shù)顯示單元。

本實(shí)用新型提供的回路電阻測(cè)試儀，信號(hào)采樣模塊采集被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)，微處理器模塊對(duì)所接收的被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)進(jìn)行分析處理，輸出被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果信號(hào)，數(shù)碼顯示屏模塊接收微處理器模塊輸出的被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果信號(hào)，并對(duì)被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)碼顯示，鍵盤控制模塊向微處理器模塊輸入控制指令；本實(shí)用新型提供的回路電阻測(cè)試儀，不易受環(huán)境、磁場(chǎng)的干擾，穩(wěn)定性好，測(cè)量結(jié)果偏差小，準(zhǔn)確度高，測(cè)量操作過程簡單，結(jié)構(gòu)簡單，實(shí)用性強(qiáng)，具有較強(qiáng)的推廣與應(yīng)用價(jià)值。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的回路電阻測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)框圖。

圖中：11、鍵盤控制模塊；12、信號(hào)采樣模塊；13、微處理器模塊；14、數(shù)碼顯示屏模塊。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

圖1示出了本實(shí)用新型實(shí)施例提供的回路電阻測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)。為了便于說明，僅僅示出了與本實(shí)用新型實(shí)施例相關(guān)的部分。

該回路電阻測(cè)試儀包括：

用于采集被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)，并對(duì)所采集的被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)進(jìn)行輸出的信號(hào)采樣模塊12；

與信號(hào)采樣模塊12相連接，用于接收信號(hào)采樣模塊12所采集的被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)，對(duì)所接收的被測(cè)回路的電流信號(hào)及電阻信號(hào)進(jìn)行分析處理，輸出被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果信號(hào)的微處理器模塊13；

與微處理器模塊13相連接，用于接收微處理器模塊13輸出的被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果信號(hào)，并對(duì)被測(cè)回路檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)碼顯示的數(shù)碼顯示屏模塊14；

與微處理器模塊13相連接，用于向微處理器模塊13輸入控制指令的鍵盤控制模塊11。

在本實(shí)用新型實(shí)施例中，信號(hào)采樣模塊12包括：

用于采集被測(cè)回路的電流信號(hào)的電流采樣模塊；

用于采集被測(cè)回路的電阻信號(hào)的電阻采樣模塊。

在本實(shí)用新型實(shí)施例中，鍵盤控制模塊11上設(shè)置有七個(gè)輕觸按鍵。

在本實(shí)用新型實(shí)施例中，微處理器模塊13自帶時(shí)鐘，可存儲(chǔ)20組測(cè)試數(shù)據(jù)。

在本實(shí)用新型實(shí)施例中，數(shù)碼顯示屏模塊14采用15位數(shù)顯示單元。

下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型的應(yīng)用原理作進(jìn)一步描述。