[實用新型]鍵盤測試機測試頭移動機構

有效

• 申請號: 201320269308.7
• 申請日: 2013-05-16
• 公開（公告）號: CN203338138U
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 劉賽帥
• 申請（專利權）人: 蘇州日和科技有限公司
• 主分類號: G05D3/00
• 分類號: G05D3/00;G01M13/00
• 代理公司: 北京康盛知識產權代理有限公司 11331
• 代理人: 伊美年

技術領域

本實用新型涉及一種鍵盤測試設備的位移調節控制設備，具體涉及一種鍵盤測試機測試頭移動機構。

背景技術

現有鍵盤測試機的核心機構都是通過一套XYZ軸三向移動體系來精確操控測試頭的位移，確保測試頭能夠準確停留在需要檢測的按鍵上方，進而測試按鍵受壓后的靈敏度、壓力等指標是否符合設計要求。現有技術中的鍵盤測試機測試頭移動機構主要是控制調節鍵盤測試機測試頭在XYZ軸三向的位移關系，對于整套設備的位移精度至關重要，然而現有的XYZ軸鍵盤測試機測試頭移動機構的活動精度和平穩性都較差，且還存在體積偏大的缺陷。

發明內容

本實用新型目的是：提供一種XYZ軸三向移動精度高，平穩性好，且體積小巧，結構緊湊的鍵盤測試機測試頭移動機構。

本實用新型的技術方案是：一種鍵盤測試機測試頭移動機構，包括X軸移動平臺，Y軸移動機構以及Z軸升降機構，其特征在于，還包括數個X軸微調裝置，所述X軸微調裝置固定于所述Y軸移動機構上，所述Y軸移動機構底座與固定于X軸移動平臺上的Z軸升降機構連接，所述X軸移動平臺放置于一機械滑軌上并與一伺服驅動機構連接，所述X軸微調裝置包括用于連接Y軸移動機構的連接座，固定于所述連接座上的第一絲杠驅動機構以及與所述第一絲杠驅動機構電連接的第一限位傳感器，該第一絲杠驅動機構與測試頭連接。

優選地，所述數個X軸微調裝置分為兩組，該兩組X軸微調裝置為相向平行交錯放置，且單個X軸微調裝置分別與所述Y軸移動機構上對應的平移架連接。

優選地，所述第一絲杠驅動機構包括固定于連接座一端的第一絲杠座、固定于第一絲杠座上的第一絲杠電機以及與第一絲杠電機連接的第一螺桿，該第一螺桿與帶有相應螺紋孔的測試頭連接塊連接。

優選地，所述Y軸移動機構包括底座，固定于所述底座上的第二絲杠驅動機構，以及與所述第二絲杠驅動機構電連接的第二限位傳感器。

優選地，所述第二絲杠驅動機構包括第二絲杠座，固定于所述第二絲杠座兩端且相向交錯分布的兩組第二絲杠電機以及平行交錯設于第二絲杠座上用于容納相應第二絲杠電機前端第二螺桿的兩組導向限位槽。

優選地，所述Z軸升降機構包括固定于X軸移動平臺底部的驅動機構以及位于X軸移動平臺四個角上的導向軸，所述驅動機構的驅動軸一端穿過X軸移動平臺并與Y軸移動機構底座底部固定連接。

本實用新型的優點是：

1．本實用新型設有X軸移動平臺，Y軸移動機構，Z軸升降機構以及數個X軸微調裝置，保證XYZ軸三向移動精度高且平穩性好。

2．本實用新型的X軸微調裝置，以及絲杠驅動機構二上的兩組絲杠電機均采用相向交錯分布，此種分布形式能有效利用空間，確保平臺整體體積小巧，結構緊湊。

附圖說明

下面結合附圖及實施例對本實用新型作進一步描述：

圖1為本實用新型結構示意圖；

圖2為本實用新型結構Y軸移動機構結構示意圖；

圖3為本實用新型結構Z軸升降機構結構示意圖；

圖4為本實用新型結構X軸微調裝置結構示意圖；

其中：1X軸移動平臺；2Y軸移動機構，2-1底座，2-2第二絲杠座，2-3第二絲杠電機，2-4導向限位槽，2-5平移架，2-6活動塊，2-7滾輪，2-8電機安裝板，2-9第二支撐架，2-10第二導向軸，2-11第二限位傳感器；3Z軸升降機構，3-1驅動機構，3-2第三導向軸,3-3緩沖裝置,3-4；4X軸微調裝置,4-1連接座，4-2第一絲杠座，4-3第一絲杠電機，4-4第一螺桿，4-5測試頭連接塊，4-6第一導向軸，4-7安裝塊，4-8第一支撐架，4-9第一限位傳感器；5機械滑軌。

具體實施方式

實施例：參照圖1所示，一種鍵盤測試機測試頭移動機構，包括X軸移動平臺1，Y軸移動機構2，Z軸升降機構3以及6個X軸微調裝置4，X軸微調裝置4固定于Y軸移動機構2上，Y軸移動機構2底座與固定于X軸移動平臺1上的Z軸升降機構3連接，X軸移動平臺1放置于一機械滑軌5上并與一伺服驅動機構連接。