[實(shí)用新型]基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320262824.7
• 申請日: 2013-05-15
• 公開（公告）號: CN203275527U
• 公開（公告）日: 2013-11-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張建粱;李忠華;呂培強(qiáng)
• 申請（專利權(quán)）人: 國家電網(wǎng)公司;江蘇省電力公司;江蘇省電力公司蘇州供電公司;哈爾濱理工大學(xué)
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R19/00;G01R23/16
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛(wèi)

1.一種基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，用于檢測待測試樣的損耗因數(shù)或損耗電流及其諧波分量，其包括基于高壓電橋的流比器、運(yùn)放、變壓器、平衡損耗電流模塊，所述的流比器與高壓電源相連接，所述的高壓電源與所述的流比器之間連接有所述的待測試樣和標(biāo)準(zhǔn)電容并構(gòu)成回路，所述的流比器的一端依次連接所述的運(yùn)放、所述的變壓器和所述的平衡損耗電流模塊并回連至所述的流比器的另一端，所述的流比器包括鐵芯、比例線圈、檢測線圈，其特征在于：所述的檢測線圈的兩端連接有指示電橋平衡或輸出損耗電流信息的示波器，所述的流比器與所述的平衡損耗電流模塊之間設(shè)置有控制開關(guān)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，其特征在于：所述的檢測線圈與所述的示波器之間設(shè)置有損耗電流放大器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，其特征在于：所述的比例線圈包括第一可調(diào)線圈、第二可調(diào)線圈、第三可調(diào)線圈、第四可調(diào)線圈，所述的流比器還包括第五可調(diào)線圈、第六可調(diào)線圈、第七可調(diào)線圈、第八可調(diào)線圈、第九可調(diào)線圈、第十可調(diào)線圈；所述的平衡損耗電流模塊與所述的變壓器之間設(shè)置有可調(diào)電位器；所述的第一可調(diào)線圈的滑動端經(jīng)所述的待測試樣而與所述的高壓電源相連接，所述的第一可調(diào)線圈的一固定端分為三路，一路接地，一路經(jīng)所述的第五可調(diào)線圈和所述的第六可調(diào)線圈而與所述的第二可調(diào)線圈的一固定端相連接，一路經(jīng)所述的第十可調(diào)線圈與所述的第四可調(diào)線圈的一固定端相連接；所述的第二可調(diào)線圈的滑動端與所述的控制開關(guān)相連接，再依次連接所述的平衡損耗電流模塊、所述的可調(diào)電位器、所述的變壓器、所述的運(yùn)放后經(jīng)相串聯(lián)的所述的第七可調(diào)線圈、所述的第八可調(diào)線圈、所述的第九可調(diào)線圈以及所述的標(biāo)準(zhǔn)電容而與所述的高壓電源相連接；所述的第九可調(diào)線圈的滑動端經(jīng)第二電容后與所述的變壓器相連接，所述的第四可調(diào)線圈的滑動端經(jīng)第一電容以及所述的可調(diào)電位器而與所述的變壓器相連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，其特征在于：所述的平衡損耗電流模塊包括相并接且一端與所述的控制開關(guān)相連接的第一電阻、第二電阻、第三電阻，所述的第一電阻的另一端和所述的第二電阻的另一端分別與所述的變壓器的輸出端的兩個(gè)滑動端相連接，所述的第三電阻的另一端與所述的可調(diào)電位器的滑動端相連接，所述的可調(diào)電位器是一固定端與所述的第一電容相連接，所述的可調(diào)電位器的另一固定端接地。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，其特征在于：所述的第二電容與所述的變壓器的輸出端的高壓端相連接，所述的變壓器的輸出端的低壓端經(jīng)第三電容后與所述的第七可調(diào)線圈的一固定端共同與所述的運(yùn)放的同相輸入端相連接，所述的運(yùn)放的反相輸入端接地，所述的運(yùn)放的輸出端與所述的變壓器的輸入端相連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，其特征在于：所述的第九可調(diào)線圈和第十可調(diào)線圈共用同一線圈并采用不同的滑動端。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，其特征在于：當(dāng)在實(shí)驗(yàn)室條件下對小電容非接地的待測試樣進(jìn)行測量時(shí)，所述的待測試樣等效于由待測電阻和待測電容相并聯(lián)的電路，當(dāng)在現(xiàn)場條件下現(xiàn)對大電容接地的待測試樣進(jìn)行測試時(shí)，所述的第一可調(diào)線圈采用高壓同軸電纜并與所述的待測試樣相連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，其特征在于：所述的流比器外設(shè)置有屏蔽機(jī)構(gòu)，所述的屏蔽機(jī)構(gòu)包括銅屏蔽體、內(nèi)磁屏蔽體、外磁屏蔽體、蓋板磁屏蔽體和中心磁屏蔽體，所述的銅屏蔽體環(huán)繞設(shè)置于所述的鐵芯外，所述的中心磁屏蔽體和所述的內(nèi)磁屏蔽體共同環(huán)繞設(shè)置于所述的銅屏蔽外，所述的外磁屏蔽體設(shè)置于所述的內(nèi)磁屏蔽體外且所述的中心磁屏蔽體貫穿于所述的外磁屏蔽體的中心軸線處并形成通道，所述的蓋板磁屏蔽體設(shè)置于所述的外磁屏蔽體的中部并與所述的中心磁屏蔽體相垂直，所述的外磁屏蔽體中還具有與所述的銅屏蔽體、所述的內(nèi)磁屏蔽體、所述的蓋板磁屏蔽體相連接并延伸至所述的外磁屏蔽體的外部的繞組抽頭屏蔽線。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于流比器電橋原理的損耗因數(shù)與損耗電流測試裝置，其特征在于：所述的流比器及所述的屏蔽機(jī)構(gòu)設(shè)置于金屬箱體中，所述的金屬箱體上開設(shè)有入口和出口，所述的通道的延伸方向與所述的入口或所述的出口的延伸方向相垂直。