[實用新型]可調波片式偏振干涉成像光譜儀

有效

• 申請號: 201320262232.5
• 申請日: 2013-05-14
• 公開（公告）號: CN203274918U
• 公開（公告）日: 2013-11-06
• 發明（設計）人: 馬臻;李英才;李旭陽
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01J3/45
• 分類號: G01J3/45
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 姚敏杰

1.一種可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述可調波片式偏振干涉成像光譜儀包括第一檢偏器、延遲量調節裝置、第二檢偏器以及光學成像探測系統；所述第一檢偏器、延遲量調節裝置以及第二檢偏器依次設置在同一光軸上；所述光學成像探測系統與第二檢偏器設置在同一光路上。

2.根據權利要求1所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述延遲量調節裝置是連續可調式或階梯可調式。

3.根據權利要求2所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述延遲量調節裝置是連續可調式時，所述延遲量調節裝置是索累補償器。

4.根據權利要求2所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述延遲量調節裝置是階梯可調式時，所述延遲量調節裝置包括切入切出裝置以及設置在切入切出裝置上的等比間隔延遲量的偏振波片組；所述切入切出裝置是條板、圓盤或轉盤。

5.根據權利要求4所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述等比間隔延遲量的偏振波片組包括多片按照延遲量等比設計的波片；所述切入切出裝置是條板；所述多片波片同方向依次疊加設置在切入切出裝置上；所述切入切出裝置是圓盤或轉盤；所述多片波片按圓盤或轉盤的圓周方向依次設置在切入切出裝置上。

6.根據權利要求1-5任一權利要求所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述光學成像探測系統包括光學鏡頭以及設置在光學鏡頭成像面上的探測器；所述光學鏡頭與第二檢偏器設置在同一光路上。

7.根據權利要求6所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述探測器是面陣探測器、多元探測器或單元探測器。

8.根據權利要求2或3或4或5所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述第一檢偏器以及第二檢偏器均是分立器件或者第一檢偏器以及第二檢偏器均直接鍍制或貼在索累補償器的鏡面上。

9.一種可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述可調波片式偏振干涉成像光譜儀包括一個或多個線陣探測器以及與線陣探測器數量相對應的延遲量調節裝置；所述延遲量調節裝置與線陣探測器一一對應后依次設置在同一光路上。

10.根據權利要求9所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述延遲量調節裝置具有不同延遲量的波片組件；所述波片組件中包括一片或多片波片；所述波片組件中的每個波片與線陣探測器一一對應后依次設置在同一光路上。

11.根據權利要求10所述的可調波片式偏振干涉成像光譜儀，其特征在于：所述不同延遲量的波片組件是按照延遲量等比設計的。