[實(shí)用新型]一種基于日盲紫外線檢測(cè)技術(shù)的絕緣子劣化檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320259208.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-05-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203465377U | 公開(公告)日: | 2014-03-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 程江洲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三峽大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12 |
| 代理公司: | 宜昌市三峽專利事務(wù)所 42103 | 代理人: | 成鋼 |
| 地址: | 443002*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 紫外線 檢測(cè) 技術(shù) 絕緣子 裝置 | ||
1.一種基于日盲紫外線檢測(cè)技術(shù)的絕緣子劣化檢測(cè)裝置,包括嵌入式主控計(jì)算機(jī),其特征在于,所述嵌入式主控計(jì)算機(jī)通過A/D轉(zhuǎn)換器連接瞄準(zhǔn)定位模塊,日盲紫外線傳感器、溫濕度傳感器、測(cè)距模塊分別連接信號(hào)調(diào)節(jié)電路、并通過A/D轉(zhuǎn)換器連接嵌入式主控計(jì)算機(jī),所述嵌入式主控計(jì)算機(jī)連接PC上位機(jī);
所述日盲紫外線傳感器通過驅(qū)動(dòng)電路連接嵌入式主控計(jì)算機(jī),日盲紫外線傳感器連接紫外脈沖檢測(cè)電路,通過紫外脈沖數(shù)來檢測(cè)高壓絕緣子的放電強(qiáng)度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種基于日盲紫外線檢測(cè)技術(shù)的絕緣子劣化檢測(cè)裝置,其特征在于,所述嵌入式主控計(jì)算機(jī)設(shè)有無線傳輸模塊,嵌入式主控計(jì)算機(jī)通過無線傳輸模塊與PC上位機(jī)通訊連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述一種基于日盲紫外線檢測(cè)技術(shù)的絕緣子劣化檢測(cè)裝置,其特征在于,所述無線傳輸模塊為藍(lán)牙串口。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種基于日盲紫外線檢測(cè)技術(shù)的絕緣子劣化檢測(cè)裝置,其特征在于,所述嵌入式主控計(jì)算機(jī)連接電源管理模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種基于日盲紫外線檢測(cè)技術(shù)的絕緣子劣化檢測(cè)裝置,其特征在于,所述嵌入式主控計(jì)算機(jī)包括功能按鍵、液晶顯示器。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于三峽大學(xué),未經(jīng)三峽大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320259208.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種篩網(wǎng)裝置
- 下一篇:手雷式噴霧器
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 防止技術(shù)開啟的鎖具新技術(shù)
- 技術(shù)評(píng)價(jià)裝置、技術(shù)評(píng)價(jià)程序、技術(shù)評(píng)價(jià)方法
- 防止技術(shù)開啟的鎖具新技術(shù)
- 視聽模擬技術(shù)(VAS技術(shù))
- 用于技術(shù)縮放的MRAM集成技術(shù)
- 用于監(jiān)測(cè)技術(shù)設(shè)備的方法和用戶接口、以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 用于監(jiān)測(cè)技術(shù)設(shè)備的技術(shù)
- 技術(shù)偵查方法及技術(shù)偵查系統(tǒng)
- 使用投影技術(shù)增強(qiáng)睡眠技術(shù)
- 基于技術(shù)庫的技術(shù)推薦方法





