[實用新型]一種磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320248254.6
• 申請日: 2013-05-09
• 公開（公告）號: CN203241524U
• 公開（公告）日: 2013-10-16
• 發(fā)明（設計）人: 朱國輝;劉孝軍
• 申請（專利權(quán)）人: 徐州遠洋磁性材料有限公司
• 主分類號: G01R33/02
• 分類號: G01R33/02
• 代理公司: 南京縱橫知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224
• 代理人: 薛伯奇

技術領域

本實用新型涉及一種磁場檢測系統(tǒng)，具體涉及一種磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)，屬于磁場檢測技術領域。

背景技術

目前，隨著電子技術的飛速發(fā)展，現(xiàn)代電子產(chǎn)品幾乎滲透了社會的各個領域，包括磁場檢測領域。通常情況下，磁卡的內(nèi)部磁場檢測采用試刷法，但這種方法無法準確判斷是磁卡消磁或者磁卡內(nèi)部芯片損壞。

因此，為解決上述技術問題，確有必要提供一種新型的磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)，以克服現(xiàn)有技術中的所述缺陷。

實用新型內(nèi)容

為解決上述問題，本實用新型的目的在于提供一種檢測數(shù)據(jù)傳送率高、檢測方便快速的磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采取的技術方案為：一種磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)，其包括微處理器、高精度磁場傳感器、D/A模塊、差分電路運算放大模塊、LCD顯示模塊以及語音提示模塊；其中，所述高精度磁場傳感器、D/A模塊、差分電路運算放大模塊、微處理器以及LCD顯示模塊依次連接；所述語音提示模塊亦連接于微處理器上。

本實用新型的磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)進一步設置為：所述LCD顯示模塊為16寸的LCD顯示模塊。

與現(xiàn)有技術相比，本實用新型具有如下有益效果：本實用新型的磁卡的內(nèi)部磁場檢測通過微處理器強大控制性，具有檢測數(shù)據(jù)傳送率高、檢測較方便等優(yōu)點，可以迅速定量獲得檢測的信息。

附圖說明

圖1是本實用新型的磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)的原理圖。

具體實施方式

請參閱說明書附圖1所示，本實用新型為一種磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)，其由微處理器1、高精度磁場傳感器2、D/A（數(shù)字/模擬）模塊3、差分電路運算放大模塊4、LCD顯示模塊5以及語音提示模塊6等幾部分組成。

其中，所述高精度磁場傳感器2、D/A模塊3、差分電路運算放大模塊4、微處理器1以及LCD顯示模塊5依次連接。所述微處理器1類型為AVR。所述高精度磁場傳感器2核心芯片為MMLD47F。所述D/A模塊3核心芯片為ADC0809。所述LCD顯示模塊5為16寸的LCD顯示模塊5。

所述語音提示模塊6亦連接于微處理器1上。

本實用新型的磁卡的內(nèi)部磁場檢測系統(tǒng)的工作原理如下：D/A模塊3將高精度磁場傳感器2的磁場信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號后，經(jīng)差分電路運算放大模塊4將數(shù)字放大后傳輸給微處理器1，進行數(shù)據(jù)的進一步定量分析。所述LCD顯示模塊5用于將定量分析的數(shù)據(jù)顯示出來。所述語音提示模塊6用于將微處理器1處理的結(jié)果語音播報出來。

以上的具體實施方式僅為本創(chuàng)作的較佳實施例，并不用以限制本創(chuàng)作，凡在本創(chuàng)作的精神及原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本創(chuàng)作的保護范圍之內(nèi)。