[實用新型]一種磁柵尺精密測量儀

有效

• 申請號: 201320244975.X
• 申請日: 2013-05-08
• 公開（公告）號: CN203224207U
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發明（設計）人: 劉樂杰;彭春雷
• 申請（專利權）人: 北京嘉岳同樂極電子有限公司
• 主分類號: G01B7/02
• 分類號: G01B7/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種磁柵尺精密測量儀，其特征在于，包括：

定片刻度盤，其包括沿其長度方向排列的多個磁傳感器芯片，每個所述磁傳感器芯片包括至少兩條彼此平行的磁感應薄膜和焊盤，所述焊盤與所述磁感應薄膜電連接，所述磁感應薄膜連接成具有獨立輸出通道的惠斯通電橋；

移動磁極，其沿所述定片刻度盤的長度方向移動，所述移動磁極產生的磁場可使與其位置相對的所述磁傳感器芯片感應并輸出差分信號；

信號處理單元，其用于根據所述差分信號獲得所述移動磁極在所述定片刻度盤的相對位置，并將其轉換成所測量器件的長度尺寸；

顯示單元，其用于顯示所測量器件的長度尺寸。

2.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，所述磁傳感器芯片在所述定片刻度盤的長度方向上縱向排列設置。

3.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，在所述定片刻度盤的長度方向上，相鄰兩個所述磁傳感器芯片錯位排列。

4.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，所述磁感應薄膜在其長度方向錯位設置。

5.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，所述磁敏感薄膜包括巨磁阻磁敏感薄膜、各向異性磁阻磁敏感薄膜、隧穿效應磁阻磁敏感薄膜、巨磁阻抗效應磁阻磁敏感薄膜、霍爾效應薄膜或巨霍爾效應薄膜。

6.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，包括印制電路板，設于所述印制電路板的布線通過所述焊盤與所述磁感應薄膜電連接，所述差分信號通過所述印制線路板傳輸至所述信號處理單元。

7.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，所述移動磁極包括永磁體和屏蔽殼,所述屏蔽殼包含至少一條狹縫使得所述永磁體置于所述屏蔽殼內，并使所述永磁體的磁場通過狹縫向所對應的磁敏感薄膜發射出去。

8.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，包括復位單元，其用于使所述信號處理單元復位，以及使所述顯示單元的讀數歸零。

9.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，所述磁柵尺精密測量儀為游標卡尺，所述定片刻度盤設于所述游標卡尺的主尺；所述移動磁極設于所述游標卡尺的游標上。

10.根據權利要求1所述的磁柵尺精密測量儀，其特征在于，所述磁柵尺精密測量儀為螺旋測微器，將一套所述定片刻度盤和所述移動磁極分別設于測微螺桿和主尺；同時將另一套所述定片刻度盤和所述移動磁極分別設于螺旋尺和主尺；或者，將移動磁極設于主尺，將兩個所述定片刻度盤分別設于測微螺桿和螺旋尺。