[實用新型]具弧狀接觸棱線的測試探針有效
| 申請號: | 201320242296.9 | 申請日: | 2013-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN203232069U | 公開(公告)日: | 2013-10-09 |
| 發明(設計)人: | 蕭德興 | 申請(專利權)人: | 蕭德興 |
| 主分類號: | G01R1/067 | 分類號: | G01R1/067 |
| 代理公司: | 北京天平專利商標代理有限公司 11239 | 代理人: | 孫剛 |
| 地址: | 中國臺灣彰化縣二*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具弧狀 接觸 棱線 測試 探針 | ||
技術領域
本實用新型系關于一種具弧狀接觸棱線的測試探針,尤指一種測試探針的檢測端,含有多個探爪,且各該探爪分別形成有一接觸棱線,且令各該接觸棱線系成一弧形曲線,以增加與被檢測物的錫球接觸面積。
背景技術
目前所生產的中央處理器、積體電路…等電子裝置,通常以多個錫球構成其電性連接面,當制作完成后,必需藉由探針檢測各錫球,以確定電子裝置的各項功能是否正常,而為品質管制的重要項目之一。
習知應用于檢測電子裝置錫球電性特性的探針,其檢測端有呈錐狀,在檢測時,以其前端抵壓于對應錫球上,以達電性連接,進而獲取電性特性;惟此一方式,由于錐狀的探針頭,在接觸錫球時,以單點方式接觸,電性連接特性極不穩定,常因接觸不良等因素,而造成檢測值不準確的缺點。
緣此,如中國臺灣新型專利申請案第M429101及M427570號,即分別揭示一種呈多爪型式的探針,各爪呈尖銳的錐狀,在檢測時,以各爪的尖點抵靠于檢測點的錫球上,而呈多點接觸,以改善前項所述習知探針以單點接觸的缺點,藉由多點接觸增加測試時電性連接的穩定性。
然而,雖然該第M429101及M427570號兩習知前案,在檢測時,可以達到多點接觸的目的,但由于探針的直徑極細,可形成的探針爪數量有限,最多為4~5爪,亦言之,其與受測錫球的接觸點,最多為4~5點的接觸,但通常會少于4~5個接觸點,這樣少量的接觸點,還是會有電性連接不穩定缺點。另外由于檢測的接觸方式,是呈點接觸,且各檢測點的間距極為趨近,因此在各相鄰檢測接觸點間,極易產生電磁干擾,而影響檢測的精準度,而有改進的必要。
本實用新型創作人有鑒于此,乃加予研究創新,揭示出本實用新型所示具弧狀接觸棱線的測試探針。
實用新型內容
本實用新型的目的在于,提供一種具弧狀接觸棱線的測試探針,其結構簡單,藉由呈弧狀的接觸棱線,吻合地接觸一檢測物呈圓弧曲面的錫球表面,以增加接觸面積,提升檢測的準確度。
為實現上述目的,本實用新型公開了一種具弧狀接觸棱線的測試探針,其特征在于:該測試探針含有一桿體,于該桿體的第一端形成一檢測端,該檢測端含有多個探爪,各探爪分別形成一接觸棱線,各接觸棱線成一接觸一檢測物呈圓弧曲面的錫球表面的弧形線。
其中,各接觸棱線為由該測試探針的圓周至軸心的弧形內凹曲線。
其中,該測試探針滑套于一套筒中,并于該套筒內頂撐有彈性地抵壓于檢測物的對應錫球上的第一彈簧,該套筒穿套于檢測治具的套穴中,另于該測試探針的外緣突設有突緣部,該突緣部與該檢測治具的套穴間頂撐有第二彈簧。
通過上述結構,本實用新型所揭示具弧狀接觸棱線的測試探針,其與檢測物的錫球表面呈線接觸,因此不會產生電極集中在尖點的效應,因此可以降低干擾,使檢測更為精準,而顯本實用新型的新穎性及具產業利用性。
本實用新型所揭示具弧狀接觸棱線的測試探針,其所形成的探爪數目,本實用新型并不予自限。
本實用新型所揭示具弧狀接觸棱線的測試探針,在制造上,可以令兩個或兩個以上,切削長度大于該測試探針直徑的切削圓柱(可由切削刀具旋轉所構成),呈交錯狀分別切削該測試探針的檢測端,以在該檢測端形成多個具有弧狀接觸棱線的探爪。如,令兩切削圓柱的交錯點,通過位于該測試探針的圓周同一點上,使所形成的接觸棱線,呈現由該測試探針的圓周至軸心的弧形內凹曲線者;惟本實用新型并不自限其制造方法。
本實用新型所揭示具弧狀接觸棱線的測試探針,滑套于一套筒中,并于該套筒內頂撐有第一彈簧,使該第一彈簧可以彈性地抵壓于檢測物的對應錫球上,于應用時,該套筒穿套于檢測治具的套穴中;本實用新型所揭示的測試探針,進一步于其外緣,突設有突緣部,令該突緣部與該檢測治具的套穴間,頂撐有第二彈簧,使該測試探針受第一彈簧及第二彈簧的彈性頂撐,彈性地抵靠在檢測物的對應錫球表面上,以確保電性連接的穩定,使檢測的電性數據可更為精準。
本實用新型所揭示具弧狀接觸棱線的測試探針,由于該測試探針是由各該探爪呈弧形曲線的接觸棱線與所檢測的檢測物的錫球呈線接觸,吻合地接觸,因此本實用新型的測試探針與所測的錫球表面,是呈多道線接觸,較習知以點接觸者,增加其接觸面積,以確保良好的電性連接特性,使檢測所得結果可以更為精準。
另外,由于本實用新型所揭示具弧狀接觸棱線的測試探針,其與檢測物的錫球表面系呈線接觸,因此不會產生電極集中在尖點的效應,因此可以降低干擾,使檢測更為精準,而顯本實用新型的新穎性并具產業利用性。
本實用新型的可取實體,可由以下的圖式及所附的實施方式,而得以明晰之。
附圖說明
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