[實(shí)用新型]帶光纖端面檢測(cè)功能的天饋線系統(tǒng)綜合分析裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320237050.2 | 申請(qǐng)日: | 2013-05-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203399128U | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李楚元 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | (株)韓國(guó)一諾儀器株式會(huì)社;大豪信息技術(shù)(威海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04B17/02 | 分類號(hào): | H04B17/02;G01B11/24 |
| 代理公司: | 上海金盛協(xié)力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31242 | 代理人: | 段迎春 |
| 地址: | 韓國(guó)京畿道城*** | 國(guó)省代碼: | 韓國(guó);KR |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光纖 端面 檢測(cè) 功能 饋線 系統(tǒng) 綜合分析 裝置 | ||
1.一種帶光纖端面檢測(cè)功能的天饋線系統(tǒng)綜合分析裝置,其特征是,包括光纖端面檢測(cè)單元(3),所述光纖端面檢測(cè)單元(3)包括:光源模塊(34)、鏡頭模塊(32)和光電轉(zhuǎn)換模塊(31),所述光源模塊(34)發(fā)射光經(jīng)鏡頭模塊(32)入射到待測(cè)光纖端面,光纖端面反射光經(jīng)鏡頭模塊(32)后入射到光電轉(zhuǎn)換模塊(31)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)后輸入到智能控制單元(1)。?
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶光纖端面檢測(cè)功能的天饋線系統(tǒng)綜合分析裝置,其特征是,所述天饋線系統(tǒng)綜合分析裝置包括控制單元(1)、混頻單元(2)、信號(hào)產(chǎn)生單元(4)、功率分配單元(5)、耦合單元(6)和信號(hào)處理單元(12),所述信號(hào)產(chǎn)生單元(4)輸出測(cè)試信號(hào)經(jīng)功率分配單元(5)分為兩路,一路經(jīng)耦合單元(6)進(jìn)入待測(cè)天饋線并發(fā)生反射后再次經(jīng)耦合單元(6)輸入到混頻單元(2),另一路直接輸入到混頻單元(2),混頻單元(2)輸出信號(hào)到處理單元(12)進(jìn)行處理,由智能控制單元(1)控制并采集處理后的數(shù)據(jù)信號(hào)并輸出。?
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種帶光纖端面檢測(cè)功能的天饋線系統(tǒng)綜合分析裝置,其特征是還包括第一濾波單元(8)、第二濾波單元(9)、第一放大單元(10)、第二放大單元(11),所述第一濾波單元(8)分別與功率分配單元(5)和第一放大單元(10)連接,第二濾波單元(9)分別與耦合單元(6)和第二放大單元(11)連接,第一放大單元(10)分別與第一濾波單元(8)和混頻單元(2)連接,第二放大單元(11)分別與第二濾波單元(9)和混頻單元(2)連接。?
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種帶光纖端面檢測(cè)功能的天饋線系統(tǒng)綜合分析裝置,其特征是,還包括與智能控制單元(1)相連接的無線通信單元(14)。?
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種帶光纖端面檢測(cè)功能的天饋線系統(tǒng)綜合分析?裝置,其特征是,還包括與智能控制單元(1)相連接的GPS單元(15)。?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于(株)韓國(guó)一諾儀器株式會(huì)社;大豪信息技術(shù)(威海)有限公司,未經(jīng)(株)韓國(guó)一諾儀器株式會(huì)社;大豪信息技術(shù)(威海)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320237050.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





