[實用新型]一種量子效應光電探測器微光測試系統有效

申請號：	201320228238.0	申請日：	2013-04-28
公開（公告）號：	CN203259609U	公開（公告）日：	2013-10-30
發明（設計）人：	郭方敏;劉曉艷	申請（專利權）人：	華東師范大學
主分類號：	G01R31/00	分類號：	G01R31/00;G01R31/308
代理公司：	上海藍迪專利事務所 31215	代理人：	徐筱梅;張翔
地址：	200241 ***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種量子效應光電探測器微光測試系統
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【權利要求書】：

1.一種量子效應光電探測器微光測試系統，其特征在于該微光測試系統由測試光路（1）、測試轉接器（2）、時序測試板（3）和示波器（4）組成，所述測試轉接器（2）為設有測試基座（27）和插針座（28）的轉接底座（22）與設有透光窗（26）、輸出端口（25）、制冷管口（24）和排氣閥（23）的轉接腔體（21）固定連接的密閉裝置；所述插針座（28）為兩列且分別設置在測試基座（27）兩側，兩列插針座（28）由引線與兩輸出端口（25）電性連接；測試轉接器（2）由兩輸出端口（25）與時序測試板（3）連接，時序測試板（3）與示波器（4）連接，測試光路（1）產生的測試光由透光窗（26）的光孔進入測試轉接器（2），對設置在對其內的測試對象進行性能測試。

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