[實用新型]電子零配件高溫試驗裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320225584.3
• 申請日: 2013-04-22
• 公開（公告）號: CN203184037U
• 公開（公告）日: 2013-09-11
• 發(fā)明（設計）人: 張振發(fā)
• 申請（專利權）人: 張振發(fā)
• 主分類號: B01L7/00
• 分類號: B01L7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種試驗裝置，特別涉及的是一種電子零配件高溫試驗裝置。

背景技術

大型電工電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料對于環(huán)境中的溫度的要求很高，需要對其進行高溫老化試驗，以保證檢測產(chǎn)品的耐高溫性能。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種電子零配件高溫試驗裝置。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：電子零配件高溫試驗裝置，包括有箱門機構，所述箱門機構內(nèi)部設有高溫發(fā)生裝置，所述箱門機構的外部設有箱門和工作操作臺，所述箱門上設有透視板。

所述高溫發(fā)生裝置由加熱器及其連接的微電腦溫控儀構成。

所述箱門與門框之間設有硅膠密封結(jié)構。

通過采用上述的技術方案，本實用新型的有益效果是：本實用新型自動運行加熱，可以模擬溫度變化條件下對電子產(chǎn)品、零部件及材料進行質(zhì)量及可靠性測試，如電氣絕緣材料的耐熱性試驗，塑化產(chǎn)品的高溫老化試驗，實現(xiàn)智能化控制，具有升溫快，操作簡單，實用性強等優(yōu)點。

附圖說明

圖1是本實用新型的結(jié)構示意圖。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖和具體實施例來進一步說明本實用新型。

如圖1所示，本實用新型的電子零配件高溫試驗裝置，包括有箱門機構1，所述箱門機構1內(nèi)部設有高溫發(fā)生裝置2，所述箱門機構1的外部設有箱門3和工作操作臺4，所述高溫發(fā)生裝置2由加熱器及其連接的微電腦溫控儀構成，箱門機構1的外殼均應美觀耐腐蝕；箱門機構1的內(nèi)壁材料必須選用高級防腐蝕、防銹材料，外殼采用冷軋板噴塑，內(nèi)膽為不銹鋼，所述箱門3上設有透視板5，所述箱門3與門框之間設有硅膠密封結(jié)構，避免漏氣。當進行試驗時，打開箱門3將電子零配件放入箱體內(nèi)部，通過設置高溫發(fā)生裝置，本實用新型自動運行加熱，實現(xiàn)智能化控制，具有升溫快，操作簡單，實用性強等優(yōu)點。

以上所述的僅為本實用新型的一較佳實施例而已，不能限定本實用新型實施的范圍，凡是依本實用新型申請專利范圍所作的均等變化與裝飾，皆應仍屬于本實用新型涵蓋的范圍內(nèi)。