[實用新型]波片相位延遲光譜特性的測量裝置

有效

• 申請號: 201320202248.7
• 申請日: 2013-04-19
• 公開（公告）號: CN203178064U
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 張璐
• 申請（專利權）人: 山東大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221
• 代理人: 張勇

1.一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，包括一個寬帶光源，其出射的多波長連續光依次通過準直器、起偏器、第一待測波片、第二待測波片、檢偏器和分光器后，經多波長光電探測器接收，接收后將數據傳輸給數據采集卡，數據采集卡的數據傳輸給計算機，所述第一待測波片和第二待測波片安裝在手動控制的精密轉臺上。

2.一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，包括一個寬帶光源，其出射的多波長連續光依次通過準直器、起偏器、第一待測波片、第二待測波片、檢偏器和分光器后，經多波長光電探測器接收；所述第一待測波片和第二待測波片均與同一電機連接，或與兩個電機分別連接；所述多波長光電探測器接收的數據上傳到數據采集卡中，數據采集卡將數據傳輸給計算機，計算機控制電機。

3.如權利要求1或2所述的一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，

所述的兩個待測波片為延遲范圍為0°～180°的零級波片，所述零級波片為由晶體材料或聚合物材料制作的真零級波片或復合零級波片。

4.如權利要求1或2所述的一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，

所述準直器采用由尾纖與自聚焦透鏡精確定位而成的光纖準直器。

5.如權利要求1或2所述的一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，

所述起偏器和檢偏器均采用二向色性起偏器或雙折射起偏器中的一種。

6.如權利要求1或2所述的一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，

所述分光器采用分光棱鏡或光柵色散型分光器。

7.如權利要求1或2所述的一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，

所述寬帶光源為輸出特性穩定的連續譜光源。

8.如權利要求1或2所述的一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，

所述多波長光電探測器為多波長光電二極管陣列、光電倍增管陣列或CCD線陣或面陣傳感器。

9.如權利要求8所述的一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，所述多波長光電探測器優選為CCD線陣或面陣傳感器。

10.如權利要求2所述的一種波片相位延遲光譜特性的測量裝置，其特征是，

所述電機選用伺服電機、永磁式步進電機或反應式步進電機的電機及其相應的驅動器。