[實用新型]抗磁測試儀

有效

• 申請號: 201320198562.2
• 申請日: 2013-04-09
• 公開（公告）號: CN203178437U
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 黃山石;吳杰;姜永選
• 申請（專利權）人: 溫州市質量技術監督檢測院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域：

本實用新型涉及一種識別卡測試專用裝置，特別涉及一種抗磁測試儀，確定靜磁場對識別卡的影響，該裝置是讓識別卡暴露在79500A/m的磁場中而是否有造成集成電路失效的測試。

背景技術：

識別卡暴露在磁場強度為79500A/m的磁場中不應造成集成電路的失效，但傳統的方法，測試該項目時，是通過手工控制識別卡引人其值是在標準設定的靜磁場中，造成每次引入速度的不一致，而導致考核條件有差別。且很難用手工控制引入速度控制在ISO/IEC?10373-1所規定的200mm/s和250mm/s之間。由于是手工控制，所以每次的引入角度和引入位置也都會差別，導致整個考核的重復性很差。

實用新型內容：

針對現有技術不足，為實現上述目的，提供一種抗磁測試儀，包括標準永磁體、試樣平臺、速度控制模塊、人機界面。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：標準永磁體包括S級標準永磁體和N級標準永磁體，S級標準永磁體和N級標準永磁體分別固定在磁架內上下側，磁架為方形框架，磁架上側為S級標準永磁體，磁架下側為N級標準永磁體，標準永磁體為圓柱形狀磁體，標準永磁體由高性能的永磁質料制造，磁場強度為79500A/m，S級標準永磁體和N級標準永磁體的間隙距離為9mm，識別卡試樣測試時將試驗平臺往兩個磁體之間的間隙中穿過，即識別卡試樣距離N級標準永磁體與S級標準永磁體的距離相等，試驗平臺是由非導磁材料制成，試驗平臺為長方形狀，試驗平臺前端設有IC卡托架，IC卡托架為方形凹槽框架，測試時，試驗平臺穿行于兩磁體之間，識別卡試樣在IC卡托架上直接穿過兩個磁頭中間；試驗平臺右側固定在三角支架上，三角支架安裝在滑臺上，滑臺安裝在滾珠絲桿和導桿上，伺服電機連接減速器，并與滾珠絲桿連接傳動。速度控制模塊由速度感應器、直線軸承、滾珠螺母、速度反饋信號、導桿、減速器、伺服電機組成，試驗平臺安裝在速度控制模塊之上，實現速度控制，速度控制模塊提供的速度在225mm/s，并可小范圍調整；裝置設有人機界面，人機界面提供實時速度顯示功能，具有顯示速度的表頭，觀看到試驗平臺的運動速度，并設有操作按鈕。

本實用新型有益效果：能調整控制識別卡引入速度，且每次引入的位置和角度都固定不變，為整個考核過程提供嚴格一致并可復現的測試條件。

附圖說明：

圖1為本實用新型的原理結構示意圖；

圖中，1、S級標準永磁體，2、識別卡試樣，3、N級標準永磁體，4、試樣平臺，5、速度感應器，6、直線軸承，7、滾珠螺母，8、導桿，9、速度反饋信號，10、滾珠絲杠，11、減速器，12、伺服電機，13、操作按鈕，14、人機界面。

具體實施方式：

如附圖所示，本實用新型包括S級標準永磁體1、識別卡試樣2、N級標準永磁體3、試樣平臺4、速度感應器5、直線軸承6、滾珠螺母7、導桿8、速度反饋信號9、滾珠絲杠10、減速器10、伺服電機12、操作按鈕13、人機界面14。標準永磁體包括S級標準永磁體1和N級標準永磁體3，S級標準永磁體1和N級標準永磁體3分別固定在磁架內上下側，磁架為方形框架，磁架上側為S級標準永磁體1，磁架下側為N級標準永磁體3，標準永磁體為圓柱形狀磁體，標準永磁體由高性能的永磁質料制造，磁場強度為79500A/m，S級標準永磁體1和N級標準永磁體3的間隙距離為9mm，識別卡試樣2測試時將試驗平臺往兩個磁體之間的間隙中穿過，即識別卡試樣2距離N級標準永磁體3與S級標準永磁體1的距離相等，試驗平臺4是由非導磁材料制成，試驗平臺4為長方形狀，試驗平臺4前端設有IC卡托架，測試時，試驗平臺4穿行于兩磁體之間，識別卡試樣2在IC卡托架上直接穿過兩個磁頭中間；試驗平臺4右側固定在三角支架上，三角支架安裝在滑臺上，滑臺安裝在滾珠絲桿10和導桿8上，伺服電機連接減速器，并與滾珠絲桿10連接傳動。速度控制模塊由速度感應器5、直線軸承6、滾珠螺母7、導桿8、速度反饋信號9、減速器11、伺服電機12組成，試驗平臺4安裝在速度控制模塊之上，實現速度控制，速度控制模塊提供的速度在225mm/s，并可小范圍調整；裝置設有人機界面14，人機界面14提供實時速度顯示功能，具有顯示速度的表頭，觀看到試驗平臺的運動速度，并設有操作按鈕13。

具體操作時，先將裝置放置與水平面上，同時遠離磁干擾源。開機，系統復位。將識別卡試樣2放置在試樣平臺4上，按人機界面14上的啟動開關，試樣平臺4由伺服電機驅動滾珠絲桿10推送經過標準永磁體，即接受了強度為79500A/m的靜磁場的考驗。取出識別卡試樣2，進行后續試驗，以確定靜磁場所對識別卡試樣2造成的任何有害影響。