[實用新型]電壓應力測試電路和電壓應力測試系統

有效

• 申請號: 201320174954.5
• 申請日: 2013-04-09
• 公開（公告）號: CN203350395U
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: N·加涅;C·克萊恩;S·馬卡盧索
• 申請（專利權）人: 快捷半導體（蘇州）有限公司;快捷半導體公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理事務所(普通合伙) 11270
• 代理人: 武晨燕;張穎玲

1.一種電壓應力測試電路，包括：?

第一開關和第二開關，所述第一開關和第二開關配置為接收正應力電壓或負應力電壓，?

其中所述第一開關配置為向第一半導體器件的柵極提供正應力電壓，并將所述第一半導體器件的柵極與負應力電壓隔離開，并且?

其中所述第二開關配置為向第二半導體器件的柵極提供負應力電壓，并將正應力電壓與所述第二半導體器件的柵極隔離開。?

2.根據權利要求1所述的電壓應力測試電路，其中，所述第一開關和第二開關配置為在沒有動力的情況下操作，所述動力為除所述正應力電壓或負應力電壓之外的動力。?

3.根據權利要求1所述的電壓應力測試電路，其中，所述第一開關配置為響應于接收正應力電壓而向第一半導體器件的柵極提供所述正應力電壓，并響應于接收負應力電壓而將所述負應力電壓與所述第一半導體器件的柵極隔離開，并且?

其中，所述第二開關配置為響應于接收負應力電壓而向第二半導體器件的柵極提供所述負應力電壓，并響應于接收正應力電壓而將所述正應力電壓與所述第二半導體器件的柵極隔離開。?

4.根據權利要求1所述的電壓應力測試電路，其中，所述第一開關和第二開關配置為從單個外部焊墊接收所述正應力電壓或負應力電壓。?

5.根據權利要求1所述的電壓應力測試電路，其中，所述第一開關包括p型半導體器件，并且其中所述第二開關包括n型半導體器件。?

6.根據權利要求5所述的電壓應力測試電路，其中，所述第一開關包括p型半導體器件，所述p型半導體器件包括柵極、源極和漏極，?

其中所述第二開關包括第一n型半導體器件和第二n型半導體器件，所述第一n型半導體器件和第二n型半導體器件分別包括柵極、源極和漏極，?

其中所述p型半導體器件的柵極連接至所述第一n型半導體器件和第二n型半導體器件的柵極，并配置為接地，?

其中所述第一n型半導體器件的源極連接至所述第二n型半導體器件的源極，?

其中所述p型半導體器件的源極和所述第一n型半導體器件的漏極相連，并配置為從單個外部焊墊接收正應力電壓或負應力電壓，?

其中所述p型半導體器件配置為當在所述源極處接收到正應力電壓時，在所述漏極處提供正應力電壓，并且當在所述源極處接收到負應力電壓時，將負應力電壓與所述漏極隔離開，并且?

其中所述第一n型半導體器件和第二n型半導體器件配置為當在所述第一半導體器件的漏極處接收到負應力電壓時，在所述第二n型半導體器件的漏極處提供負應力電壓，并且當在所述第一半導體器件的漏極處接收到正應力電壓時，將正應力電壓與所述第二n型半導體器件的漏極隔離開。?

7.一種電壓應力測試系統，包括：?

單個外部焊墊，配置為接收正應力電壓或負應力電壓；?

均包括柵極的第一半導體器件和第二半導體器件；以及?

電壓應力測試電路，配置為將正應力電壓或負應力電壓從所述單個外部焊墊提供至所述第一半導體器件或所述第二半導體器件的柵極，所述電壓應力測試電路包括：第一開關和第二開關，所述第一開關和第二開關均連接至所述單個外部焊墊，所述第一開關連接至所述第一半導體器件，所述第二開關連接至所述第二半導體器件，并且所述第一開關和第二開關配置為從所述單個外部焊墊接收所述正應力電壓或負應力電壓，?

其中所述第一開關配置為將所述單個外部焊墊處的正應力電壓提供至所述第一半導體器件的柵極，并將所述單個外部焊墊處的負應力電壓與所述第一半導體器件的柵極隔離開，并且?

其中所述第二開關配置為將所述單個外部焊墊處的負應力電壓提供至所述第二半導體器件的柵極，并將所述單個外部焊墊處的正應力電壓與所述第二半?導體器件的柵極隔離開。?

8.根據權利要求7所述的電壓應力測試系統，其中，所述電壓應力測試電路配置為向所述第一半導體器件和第二半導體器件提供電壓應力測試，而不需要向所述EVS測試系統提供除所述正應力電壓或負應力電壓之外的動力。?

9.根據權利要求7所述的電壓應力測試系統，其中，所述電壓應力測試電路配置為向所述第一半導體器件或所述第二半導體器件提供電壓應力測試，而不需要接入所述第一半導體器件或所述第二半導體器件的源極或漏極。?