[實用新型]高壓導體接觸不良的多觸點試驗裝置有效
| 申請號： | 201320151485.5 | 申請日： | 2013-03-29 |
| 公開（公告）號： | CN203178419U | 公開（公告）日： | 2013-09-04 |
| 發明（設計）人： | 馮蓓艷;殷立軍;孫陽盛;都泓蔚;常鵬;華月申;張華;聶鵬晨 | 申請（專利權）人： | 國家電網公司;上海市電力公司 |
| 主分類號： | G01R31/12 | 分類號： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 上海信好專利代理事務所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 張妍 |
| 地址： | 100031 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 高壓 導體 接觸 不良 觸點 試驗裝置 | ||
【權利要求書】：
1.高壓導體接觸不良的多觸點試驗裝置，包含高壓導體（1），其特征在于，還包含多個螺母（2）；
多個所述的螺母（2）設置在高壓導體（1）的下端；
多個所述的螺母（2）之間的間隙為0.5mm-1mm。
2.如權利要求1所述的高壓導體接觸不良的多觸點試驗裝置，其特征在于，所述的高壓導體（1）為中空的圓柱形結構，腔室內充SF6氣體到0.2MPa。
3.如權利要求1所述的高壓導體接觸不良的多觸點試驗裝置，其特征在于，所述的高壓導體（1）下端設有外螺紋。
4.如權利要求1所述的高壓導體接觸不良的多觸點試驗裝置，其特征在于，多個所述的螺母（2）型號為M10。
5.如權利要求3所述的高壓導體接觸不良的多觸點試驗裝置，其特征在于，多個所述的螺母（2）的內螺紋與高壓導體（1）下端的外螺紋相配合。
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