[實用新型]真空檢漏控制系統的數據交換裝置

有效

• 申請號: 201320145438.X
• 申請日: 2013-03-27
• 公開（公告）號: CN203249739U
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 趙睿
• 申請（專利權）人: 天津紫恩玄泰科技有限公司
• 主分類號: G01M3/26
• 分類號: G01M3/26
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 鄭自群

技術領域

本實用新型涉及一種真空檢漏控制系統，尤其是一種真空檢漏控制系統的數據交換裝置。?

背景技術

真空檢漏就是用適當的方法，迅速判斷漏氣、確定漏率是否在容許的范圍之內，找出漏孔的位臵、測定漏率大小，以便進行修補。檢漏方法很多，根據被檢件所處的狀態可分為充壓檢漏法、真空檢漏法和其它檢漏法。A、充壓檢漏法：在被檢件內部充入一定壓力的示漏物質，如果被檢件上有漏孔，示漏物質便從漏孔漏出，用一定的方法或儀器在被檢件外部檢測出從漏孔漏出的示漏物質，從而判定漏孔的存在、位臵及漏率的大小，此即充壓檢漏法。B、真空檢漏法：被檢件和檢漏器的敏感元件處于真空狀態，在被檢件的外部施加示漏物質，如果有漏孔，示漏物質就會通過漏孔進入被檢件和敏感元件的空間，由敏感元件檢測出示漏物質，從而可以判定漏孔的存在、位臵利漏率的大小，這就是真空檢漏法。C、其它檢漏法：被檢件既不充壓也不抽真空，或其外部受壓等方法歸入其它檢漏法。背壓法就是其中主要方法之一。所謂“背壓檢漏法”是利用背壓室先將示漏氣體由漏孔充入被檢件，然后在真空狀態下使示漏氣體再從被檢件中漏出．以某種方法(或檢漏儀)檢測漏出的示漏氣體，判定被檢件的總漏率的方法。用于檢漏的儀器有氦質譜檢漏儀、鹵素檢漏儀、高頻火花檢漏器、氣敏半導體檢漏儀及用于質譜分析的各種質譜計。不管那一種檢漏儀控制系統都是他們的主要部件，現有的真空檢漏控制系統的數據交換裝置，存在如下缺點：?

1、原數據交換處理速度慢；?

2、硬件乘法器運算速度慢；?

3、存儲器容量小，RAM為4KB，ROM為128KB；?

4、ADC僅為10bit；?

5、數據交換模塊的布局不合理，容易導致ADC采集受影響。?

發明內容

本實用新型提供了一種真空檢漏控制系統的數據交換裝置，它解決了現有數據交換裝置數據交換處理速度慢；硬件乘法器運算速度慢；存儲器容量小，RAM為4KB，ROM為128KB；ADC僅為10bit；數據交換模塊的布局不合理，?容易導致ADC采集受影響。?

為解決上述技術問題，本實用新型采用的技術方案為：?

一種真空檢漏控制系統的數據交換裝置，包括連接模塊、數據交換模塊、數據處理模塊和通信模塊；所述的連接模塊連接所述的數據交換模塊，所述的數據交換模塊連接所述的數據處理模塊，所述的數據處理模塊連接通信模塊，其中所述的數據交換模塊包括信號處理器；調節信號源，使信號達到國標的電位器；將電源提供的額定電壓調至所需的電壓的電壓轉換單元；所述的電位器和電壓轉換單元分別于與信號處理器相連接。?

進一步，所述的數據交換模塊還包括保護電壓轉換單元與信號處理器之間連線的安全，在電流或者電壓過大時自動切斷連線的繼電器，所述的繼電器與信號處理器相連接。?

進一步，所述的數據交換模塊還包括保護信號處理器和電壓轉換單元，使這些部件集成在一起更好的匹配的電阻、電容，所述的電阻、電容與信號處理器相連接。?

本實用新型的有益效果：?

本實用新型的真空檢漏控制系統的數據交換裝置使數據交換的速度加快，硬件乘法器運算速度加快；RAM增至8KB；ADC提高至高速12bit，200ksps；布局更為合理，使ADC采集功能發揮至最佳。?

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。?

圖1為本實用新型的結構框圖。?

圖2為實施例1中的數據交換模塊的的結構框圖。?

圖3為實施例2中的數據交換模塊的的結構框圖。?

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├绢I域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。?

實施例1?