[實用新型]基于GTEM室的超高頻傳感器靈敏度測試裝置

有效

• 申請號: 201320144998.3
• 申請日: 2013-03-27
• 公開（公告）號: CN203164406U
• 公開（公告）日: 2013-08-28
• 發明（設計）人: 高凱;倪浩;江建華;徐鵬
• 申請（專利權）人: 國家電網公司;上海市電力公司;華東電力試驗研究院有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 上?？剖⒅R產權代理有限公司 31225
• 代理人: 宣慧蘭

技術領域

本實用新型涉及一種測試裝置，尤其是涉及一種基于GTEM室的超高頻傳感器靈敏度測試裝置。

背景技術

超高頻局放測試儀器一般可以分為手持式超高頻局放測試儀、便攜式超高頻局放測試儀和厘米級定位超高頻局放測試系統。手持式超高頻局放測試儀一般帶有1～2個超高頻信號處理通道，采用嵌入式CPU芯片，儀器以顯示測試的超高頻信號幅值為主，一般都帶有時域圖譜或其他相關圖譜。便攜式超高頻局放測試儀，是指帶2～4個超高頻通道，采用筆記本電腦控制前端信號調理和數據采集裝置，并對數據進行分析和診斷的局放測試設備。

厘米級定位超高頻局放測試系統一般指帶有高采樣率的數字存儲示波器、可以對超高頻局放信號進行靈活分析并進行精確定位的局放測試系統。系統一般由超高頻傳感器、信號調理裝置和數字存儲示波器組成。為了保證測試的準確性，超高頻傳感器的靈敏度尤為重要，但是目前缺少能夠準確測試超高頻傳感器靈敏度的裝置。

實用新型內容

本實用新型的目的就是為了克服上述現有技術存在的缺陷而提供一種基于GTEM室的超高頻傳感器靈敏度測試裝置。

本實用新型的目的可以通過以下技術方案來實現：

一種基于GTEM室的超高頻傳感器靈敏度測試裝置，包括GTEM室、信號發生器以及頻譜分析儀，所述的信號發生器與GTEM室的信號發射端連接，待測試的超高頻傳感器設置在GTEM室的測試區域內，并與頻譜分析儀連接。

所述的GTEM室的測試區域的軸截面呈等腰三角形結構，所述的信號發射端位于等腰三角形結構的頂點，等腰三角形結構的底邊處設置吸波材料層。

所述的信號發生器為輸出頻率在300MHz～1500MHz之間的信號發生器。

與現有技術相比，本實用新型利用GTEM室的結構，將超高頻傳感器設置于GTEM室的測試區域內，獲取傳感器的電壓信號，與傳感器位置的場強值進行比較，檢測器靈敏度，并且可以通過多組數據來進行平均，進一步提高測試的精度。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本實用新型進行詳細說明。

實施例

如圖1所示，一種基于GTEM室的超高頻傳感器靈敏度測試裝置，包括GTEM室1、信號發生器2以及頻譜分析儀3，信號發生器2與GTEM室1的信號發射端11連接，輸出頻率在300MHz～1500MHz之間的測試信號，待測試的超高頻傳感器4設置在GTEM室的測試區域內，該測試區域的軸截面呈等腰三角形結構，所述的信號發射端11位于等腰三角形結構的頂點，等腰三角形結構的底邊處設置吸波材料層12。頻譜分析儀3連接超高頻傳感器4的輸出端，獲取超高頻傳感器4的電壓信號，電壓信號與超高頻傳感器4位置處的場強之比，即為靈敏度的測試值。