[實用新型]一種測量大直徑深錐孔的裝置

有效

• 申請號: 201320144501.8
• 申請日: 2013-03-27
• 公開（公告）號: CN203241008U
• 公開（公告）日: 2013-10-16
• 發明（設計）人: 姚龍濤;王守平;張莉;武輝杰;曾令琴
• 申請（專利權）人: 中信重工機械股份有限公司
• 主分類號: G01B5/24
• 分類號: G01B5/24;G01B5/12
• 代理公司: 洛陽市凱旋專利事務所 41112
• 代理人: 林志堅

【技術領域】

本實用新型涉及機械加工領域，尤其涉及一種測量工件加工精度的裝置，具體涉及一種測量大直徑深錐孔的裝置。

【背景技術】

已知的，在機械制造中，經常需要進行錐孔的加工和測量，在測量錐孔時通常需要對錐孔的半錐角和錐孔的大端直徑或小端直徑進行測量，目前在對小直徑錐孔的半錐角和大端直徑或小端直徑測量時，通常使用與被測錐孔具有相同錐度的錐軸式錐度量規或將錐軸式錐度量規的圓錐臺對稱削去一部分而形成的板式錐度量規來完成對錐孔的測量，但上述兩種量規由于自身結構的限制無法對大直徑的錐孔進行測量，因為上述兩種量規的重量會隨著錐孔孔徑的增大而大幅度增加，同時由于重量的原因導致上述兩種量規在實際測量時不便于操作，甚至無法操作等，所以在測量大直徑的錐孔時錐軸式錐度量規或板式錐度量規均不適合，更不適合對大直徑深錐孔進行測量。

而在測量大直徑錐孔的半錐角和錐孔的大端直徑或小端直徑時，目前本領域技術人員主要通過以下兩種方法：

其中一種測量大直徑錐孔的方法，結合附圖1，本測量方法所使用的測量裝置包括平尺8、等高量塊3、球形測頭21、球形測頭角尺22、千分表5和千分表角尺23，在平尺8與等高量塊3接觸的基準面的兩端分別設有球形測頭角尺22和千分表角尺23，在所述球形測頭角尺22和千分表角尺23上分別設有球形測頭21和千分表5，所述球形測頭21和千分表5的中心線在同一直線上且距平尺8的基準面距離相等；在使用本測量裝置對被測工件1上的錐孔進行測量時，首先沿平尺8的長度方向調整千分表角尺23，并校準球形測頭21到千分表5測頭尺寸，進一步將平尺8的基準面直接置于錐孔的端面，此時就可以測量出錐孔的一個直徑d₁,同時將平尺8的基準面到球形測頭21的測頭中心線或千分表5的測量頭中心線的距離設為H，將等高量塊3的高度設為h，然后將平尺8的基準面置于等高量塊3上，此時就可以測量出錐孔的另一個直徑d₂，然后通過如下公式就可以計算出錐孔的半錐角和大端直徑，具體計算公式如下：

此時如果要測量錐孔更多截面的直徑只需更換不同高度的等高量塊3即可，然而，當被測量錐孔的深度增大時，在測量過程中球形測頭角尺22和千分表角尺23的高度值就需要隨之增大，即H值增大，當H值增大時將導致球形測頭角尺22和千分表角尺23自身剛性以及它們與平尺8聯接剛性的下降，從而降低測量精度，甚至無法正常測量，如果加大球形測頭角尺22和千分表角尺23的剛性就會增大球形測頭角尺22和千分表角尺23以及平尺8的外形結構尺寸，從而造成該測量裝置的總重量的大幅度增加，同樣將無法正常進行測量，因此該測量裝置及測量方法只能適用于大直徑淺錐孔的測量，而不適用于大直徑深錐孔的測量；

另一種測量大直徑錐孔的方法，結合附圖2，本測量方法所使用的測量裝置包括球頭千分尺C26、定位尺25、端面可調定位塊24、調整螺釘、定位銷33、調整螺母28、調整支架29、調整螺柱、聯接塊30、調整支塊31和拉緊鉤32，在對錐孔進行測量前，首先旋擰調整螺釘使端面可調定位塊21的下端面與錐孔大端端面接觸“即共面”，同時定位尺25底面兩棱邊與錐孔孔壁接觸“即定位尺25上設置的復數個定位孔27的中心對稱面通過被測量錐孔母線”，然后通過調整螺母28、調整支架29、調整螺柱、聯接塊30和調整支塊31的調整將拉緊鉤11的鉤頭與錐孔小端面接觸，并拉緊定位尺25使其固定，然后將球頭千分尺C26的球頭插入定位尺25上部的定位孔27中，此時球頭千分尺C26的測量頭的測量點是沿圓周為最大值、而沿錐孔母線為最小值的點“即球頭千分尺C26中心線垂直于球頭所接觸母線的對稱母線”，進一步從上向下依次將球頭千分尺C26的球頭插入定位尺25上的定位孔27中，以最上面的定位孔27和最下面的定位孔27為例，將球頭千分尺C26的測量值分別記為M₁和M₆，將錐孔大端直徑設為D、錐孔半錐角設為α、定位銷33中心線與端面可調定位塊24的定位底面的距離設為h、定位銷33中心線與最上面定位孔27的距離設為L₀、定位銷33中心線與最下面定位孔27的距離設為L₅，然后通過如下公式就可以計算出錐孔的半錐角和大端直徑，具體計算公式如下：