[實(shí)用新型]多層試管架及化學(xué)分析儀有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320135778.4 | 申請(qǐng)日： | 2013-03-22 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN203170364U | 公開（公告）日： | 2013-09-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王懷軍;孫明林 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 蘇州惠生電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | B01L9/06 | 分類號(hào)： | B01L9/06 |
| 代理公司： | 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237 | 代理人： | 張全文 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園*** | 國(guó)省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 多層 試管架 化學(xué)分析 | ||
1.一種多層試管架，用于放置裝載有樣本的多個(gè)試管，包括一架體，其特征在于：所述架體上設(shè)有使各所述試管按不同的高度分層排列的置放位。
2.如權(quán)利要求1所述的多層試管架，其特征在于：所述架體具有分層設(shè)置、呈階梯形的上平面，各所述置放位是由各層所述上平面上向下開設(shè)的試管孔構(gòu)成，各所述試管孔之間間隔設(shè)置且成列排列。
3.如權(quán)利要求2所述的多層試管架，其特征在于：各所述試管孔底部向下凹設(shè)有定位孔。
4.如權(quán)利要求2所述的多層試管架，其特征在于：所述架體為階梯形條形構(gòu)件，各所述試管孔沿所述架體長(zhǎng)度方向設(shè)置，同一層所述上平面上成列排列的各所述試管孔的底部在同一平面上。
5.如權(quán)利要求2所述的多層試管架，其特征在于：所述架體為階梯形條形構(gòu)件，各所述試管孔沿所述架體長(zhǎng)度方向設(shè)置，同一層所述上平面上成列排列的各所述試管孔的底部具有高度差，相鄰各所述試管孔的底部按等間距高度差交錯(cuò)排列。
6.如權(quán)利要求2-5任一項(xiàng)所述的多層試管架，其特征在于：各層所述上平面上任意一列上的各所述試管孔的中心在同一直線上。
7.如權(quán)利要求2-5任一項(xiàng)所述的多層試管架，其特征在于：各層所述上平面上任意一列上的各所述試管孔中心與相鄰列上的各所述試管孔中心錯(cuò)位排列。
8.如權(quán)利要求7所述的多層試管架，其特征在于：錯(cuò)位設(shè)置的各所述試管孔中，任意一列的各所述試管孔中心位于其相鄰列的兩所述試管孔之間對(duì)稱中心線上。
9.如權(quán)利要求2所述的多層試管架，其特征在于：所述架體為分層設(shè)置的階梯形弧狀條形構(gòu)件，各所述試管孔沿所述架體弧形長(zhǎng)度方向間隔排列，同一層所述上平面上成列排列的各所述試管孔的底部在同一平面上或具有高度差。
10.如權(quán)利要求9所述的多層試管架，其特征在于：同一層所述上平面上排列的所述各試管孔中心位于同一圓周線上，不同層的所述上平面上排列的所述各試管孔中心線共心且呈等間距環(huán)形排列。
11.化學(xué)分析儀，其特征在于：包括權(quán)利要求1-10任一項(xiàng)所述的多層試管架。
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