[實用新型]低損耗亞納分辨率的光纖測振系統

有效

• 申請號: 201320132242.7
• 申請日: 2013-03-22
• 公開（公告）號: CN203298862U
• 公開（公告）日: 2013-11-20
• 發明（設計）人: 雷李華;高婧;孫曉光;毛辰飛;范國芳;楊柯;翁浚婧
• 申請（專利權）人: 上海市計量測試技術研究院
• 主分類號: G01H9/00
• 分類號: G01H9/00
• 代理公司: 上海浦東良風專利代理有限責任公司 31113
• 代理人: 陳志良

1.一種低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于所述測振系統的裝置及連接關系為：光源（2）由普通驅動電源（1）驅動；沿光源（2）發射光前進方向依次放置要檢測的振動臺（6），微懸臂系統（7）；所述的光源（2）傳出的光在第一光纖（3）中傳播；壓電階段（11）中涉及需移位對準的儀器包括粘附有第一光纖（3）的待測的振動臺（6）、微懸臂系統（7）以及顯微鏡（4），顯微鏡（4）設于振動臺（6）和微懸臂系統（7）的上方；所述的微懸臂系統（7）包括可調的三維平臺（14）和粘附在其上的末端是納米針尖探針的第二光纖（5），第二光纖（5）的另一端與光電轉換裝置（8）的輸入端連接；所述的光電轉換裝置（8）的輸出端與數據采集和處理裝置（9）連接；所述的數據采集和處理裝置（9）與信號監視器（10）連接。

2.根據權利要求?1?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述的電源（1）給光源（2）提供直流驅動電流和交流驅動電流，并且其調制信號輸出端可以輸出與供給電源的交流驅動電流信號同頻率的交流電壓信號。

3.根據權利要求?1或2?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述的光源（2）為半導體激光器。

4.根據權利要求?1?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述待測的振動臺（6）上的第一光纖（3）與微懸臂的第二光纖（5）的納米針尖探針為非接觸式，當光通過待測振動臺上的第一光纖（3）傳播到末端為納米針尖探針的第二光纖（5）中時，納米針尖探針可以探測基本模式的模場分布。

5.根據權利要求?1?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述的數據采集和處理裝置（9）包括數據采集裝置（12）和數據處理裝置（13）。

6.根據權利要求?1?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述的顯微鏡（4）為微米級分辨率的顯微鏡。

7.根據權利要求?1?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述的第一光纖（3）和第二光纖（5）均為單模光纖。

8.根據權利要求?1?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述的納米針尖探針是微懸臂系統（7）的一部分，是一個高分辨率的探測器。

9.根據權利要求?1?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述的光電轉換裝置（8）為CCD或者光功率計。

10.根據權利要求?1?所述的低損耗亞納分辨率的光纖測振系統，其特征在于：所述的信號監視器（10）為示波器或者電腦。