[實用新型]原子頻標頻率漂移率檢測系統

有效

• 申請號: 201320129758.6
• 申請日: 2013-03-20
• 公開（公告）號: CN203133167U
• 公開（公告）日: 2013-08-14
• 發明（設計）人: 胡立志;詹國鐘;董蓮;來磊;劉其華;張帥
• 申請（專利權）人: 上海市計量測試技術研究院
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 鄭瑋

技術領域

本實用新型涉及原子頻標檢測技術領域，特別涉及一種原子頻標頻率漂移率檢測系統。

背景技術

隨著科學技術和社會經濟的不斷發展，原子頻標廣泛應用于守時、授時、數字通訊網同步、無線電導航與定位、時間頻率測量、導彈衛星跟蹤等領域。由于原子頻標在連續運行過程中，頻率輸出元器件本身老化等因素，以及環境因素和負載能量變化影響，其輸出頻率常隨運行時間單調增加或減少，且頻率變化常呈線性規律，因此，把原子頻標隨運行時間單調變化的速率稱為頻率漂移率。頻率漂移特性是原子頻標長期運行工作的基本特性。在原子頻標的日常應用中，根據其長期特性指標高的特點，一般需要長期運行，以滿足守時、授時、數字通訊網同步等使用要求。因此，原子頻標的頻率漂移率成為其性能的重要指標。

頻率漂移率是影響原子頻標長期特性的重要指標，其測試方法與頻率準確度測試方法類似。由于在實際測量中，無法直接測量實際頻率與標稱頻率偏差，而是以參考原子頻標的實際頻率作為標準來測量被測原子頻標的實際輸出頻率。因此，要求參考原子頻標的頻率漂移率比被測原子頻標高一個數量級以上，測量儀器對頻率漂移率測量引入的誤差比被測原子頻標的頻率漂移率小一個數量級以上。此外，頻率漂移率測試應在原子頻標加電到規定的預熱時間后開始測量。原子頻標日漂移率的測試一般需15天，每天取一個數據，共15個數據。

現有技術中常用比相法檢測原子頻標的頻率漂移率。請參考圖1，其為現有技術中原子頻標頻率漂移率檢測系統的框結構示意圖。如圖1所示，所述原子頻標頻率漂移率檢測系統1中包括：被檢原子頻標10、參考原子頻標11、比相儀12及記錄儀13，其中所述被檢原子頻標10及參考原子頻標11分別與所述比相儀12，所述比相儀12與所述記錄儀13連接。具體的，所述被檢原子頻標10及參考原子頻標11分別輸出頻率f_x、f_r，所述比相儀12獲取該兩個輸出頻率f_x、f_r之間的相位差，所述記錄儀13記錄得到的相位差。通常的，原子頻標日漂移率的測試需要連續15天，即需要記錄16個相位差X_i值，相鄰兩個X_i值的時間間隔為τ=1d=86400s。接著，按照如下式一便可計算日頻率漂移率K：

K=Σi=115(ΔXi-ΔX‾)(ti-t‾)Σi=115(ΔXi-ΔX‾)2Σi=115(ti-t‾)2]]>（式一）