[實(shí)用新型]一種能提高高壓LED制程良率的步階型發(fā)光二極管有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320104173.9 | 申請(qǐng)日: | 2013-03-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN203134800U | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 莊曜瑋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南通同方半導(dǎo)體有限公司;同方股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/15 | 分類號(hào): | H01L27/15;H01L33/20 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100083 北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提高 高壓 led 制程良率 步階型 發(fā)光二極管 | ||
1.一種能提高高壓LED制程良率的步階型發(fā)光二極管,它包括開(kāi)槽后形成的多個(gè)高壓LED,各高壓LED包括襯底(1)以及襯底(1)上方依次由N型半導(dǎo)體層(2)、發(fā)光層(3)、P型半導(dǎo)體層(4)和透明導(dǎo)電層(5)組成的發(fā)光結(jié)構(gòu),在N型半導(dǎo)體層(2)上的一端置有N型電極(6),透明導(dǎo)電層(5)上、與N型電極(6)相對(duì)的另一端置有P型電極(9),所述各高壓LED之間采用串并聯(lián)連結(jié)橋(7)連接,所述連接橋(7)底面設(shè)有鈍化層(8),其特征在于,所述N型半導(dǎo)體層(2)的兩側(cè)面位置與鈍化層(8)的接觸面為步階式溝槽結(jié)構(gòu),連結(jié)橋(7)的外輪廓和鈍化層(8)的外輪廓相同,也為相適配的步階式溝槽結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的能提高高壓LED制程良率的步階型發(fā)光二極管,其特征在于,所述步階式溝槽結(jié)構(gòu)的溝槽間距為1um至10um,步階式溝槽結(jié)構(gòu)的延伸方向?yàn)楦鳘?dú)立芯粒外框,步階式溝槽結(jié)構(gòu)的斜面坡度為俯視角40-55度,其步階數(shù)為2階至5階。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的能提高高壓LED制程良率的步階型發(fā)光二極管,其特征在于,所述步階式溝槽結(jié)構(gòu)的總深度不超出N型半導(dǎo)體層(2)的厚度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南通同方半導(dǎo)體有限公司;同方股份有限公司,未經(jīng)南通同方半導(dǎo)體有限公司;同方股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320104173.9/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 一種良率監(jiān)測(cè)系統(tǒng)及其監(jiān)測(cè)方法
- 辨識(shí)良率損失的根本原因的系統(tǒng)與方法
- 磁性膠材、磁性膠膜、貼合方法及AMOLED顯示裝置
- 半導(dǎo)體產(chǎn)品良率分析方法、分析系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)
- 半導(dǎo)體產(chǎn)品良率分析系統(tǒng)及分析方法和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)
- 考慮機(jī)臺(tái)交互作用的辨識(shí)良率損失原因的系統(tǒng)與方法
- 半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率分析方法及良率分析系統(tǒng)
- 一種基于制程能力指數(shù)預(yù)測(cè)晶圓良率的方法
- 確定焦點(diǎn)邊界、判斷晶圓是否需要返工的方法
- 一種偏光膜卷材良率的模擬方法





