[實用新型]一種介質阻擋放電的光譜檢測裝置有效
| 申請號: | 201320102853.7 | 申請日: | 2013-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN203216850U | 公開(公告)日: | 2013-09-25 |
| 發明(設計)人: | 洪陵成;張歡 | 申請(專利權)人: | 河海大學 |
| 主分類號: | G01N21/67 | 分類號: | G01N21/67 |
| 代理公司: | 南京經緯專利商標代理有限公司 32200 | 代理人: | 李紀昌 |
| 地址: | 210096*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 介質 阻擋 放電 光譜 檢測 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種介質阻擋放電的光譜檢測裝置,屬于儀器分析技術領域。
背景技術
介質阻擋放電的結構特點是至少存在一層絕緣性的阻擋介質和小的放電通道。當在放電電極上施加足夠高的交流電壓時,電極間的氣體,即使在大氣壓下也會被擊穿而形成介質阻擋放電。該放電具有在大氣壓下實現,小體積,低能耗,低氣體溫度的優點。該放電現象為藍紫色,均勻、散漫而穩定,實際上是由大量細微的快速脈沖放電通道構成的。其在原子熒光、原子發射、原子吸收分析方法方面具有廣闊的應用前景。?
目前,已公開的用于介質阻擋放電檢測的方法,都是將產生的等離子體引到發生器以外檢測,必須要有保護氣,由于介質阻擋放電產生的等離子體溫度低、體積小,從而使得光程短、不穩定、靈敏度不高、耗氣量大和結構復雜等。
發明內容
實用新型目的:為解決上述技術問題,本實用新型的目的是提供一種介質阻擋放電的光譜檢測裝置。為介質阻擋放電提供了在分析儀器中廣泛應用的前景。
技術方案:為達到上述技術效果,本實用新型采用如下技術方案:
????一種介質阻擋放電的光譜檢測裝置,包括發光器9、介質阻擋放電裝置和檢測器10,其特征在于:所述介質阻擋放電裝置由絕緣放電腔組成,腔壁上設有載氣入口4和載氣出口5;所述放電腔兩個相對的腔壁由絕緣介質層7組成,所述兩個絕緣介質層7的外側均緊貼有電極板8,電極板8通過導線與高頻高壓電源相連接,所述兩個絕緣介質層7之間形成介質阻擋放電通道;所述放電腔還設有兩個平行的反光層6,兩個平行的反光層6分別位于兩個絕緣介質層7與電極板8連接處,所述反光層6與絕緣介質層7組成可使入射光在放電腔內形成多次反射的反射鏡;所述發光器9與絕緣介質層7成傾斜角A。??????所述絕緣介質層材料為耐熱玻璃、石英、陶瓷、有機玻璃或耐熱塑料。所述絕緣介質層厚度為0.5~4mm,絕緣介質層間距離為0.2~8mm。所述傾斜角A:0°<A<90°。所述發光器采用空心陰極燈、無極放電燈、ICP和激光中的一種。所述高頻高壓電源電壓為220V~30KV,頻率為50HZ~50MHZ。
本實用新型裝置中,放電腔上設有反光層,反光層位于絕緣介質層與電極板連接處,與絕緣介質層組成可使入射光形成多次反射的反射鏡,用于反射入射光,反光率高,因為這一結構特征,使以傾斜角度射向放電腔內反射鏡的入射光在平行反射鏡間形成多次反射,有效增加了光程長度。入射光可以是單束或多束平行光,當入射光是多束同時發出時,采用相應數量的檢測器分別檢測。入射光以傾斜角A(0°<A<90°)射入,并且入射光角度可固定可調,實現了通過調整角度調整光程。檢測器以傾斜角度A檢測射出光,避免腔內發光干擾。
有益效果
(1)本實用新型裝置結構簡單,體積小、耗氣少,很容易實現儀器的小型化。
(2)本實用新型中,因兩個相對平行絕緣介質層上設有反光層,使入射光在腔內反光層間形成多次反射,有效增加了光程長度,并且可以根據需要調整光程長度,提高了吸收率,同時由于入射光以傾斜角度射出,有效避免了放電產生的背景光干擾。
(3)本實用新型與現有的導出檢測相比,有效提高了靈敏度、穩定性,使得介質阻擋放電檢測部分變得十分簡單。
附圖說明
附圖1是介質阻擋放電的光譜檢測裝置結構示意圖。
附圖2是圖1的橫向剖面圖。
其中:1.入射光,2.射出光,3.導線,4.?載氣入口,5.?載氣出口,6.反光層,7.?絕緣介質層,8.電極板,9.發光器,10.檢測器,11.側壁。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例對本實用新型進行詳細說明:
本實用新型介質阻擋放電的光譜檢測裝置如圖1所示,包括發光器9、介質阻擋放電裝置和檢測器10,其特征在于:所述介質阻擋放電裝置由絕緣放電腔組成,腔壁上設有載氣入口4和載氣出口5;所述放電腔兩個相對的腔壁由絕緣介質層7組成,所述兩個絕緣介質層7的外側均緊貼有電極板8,電極板8通過導線與高頻高壓電源相連接,所述兩個絕緣介質層7之間形成介質阻擋放電通道;所述放電腔還設有兩個平行的反光層6,兩個平行的反光層6分別位于兩個絕緣介質層7與電極板8連接處,所述反光層6與絕緣介質層7組成可使入射光在放電腔內形成多次反射的反射鏡;所述發光器9與絕緣介質層7成傾斜角A。檢測器10以傾斜角度A檢測射出光。
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