[實用新型]一種采樣誤差自動補償的信號并行交替采樣系統

有效

• 申請號: 201320066816.5
• 申請日: 2013-02-05
• 公開（公告）號: CN203071911U
• 公開（公告）日: 2013-07-17
• 發明（設計）人: 馬侖;王元慶;謝娟;茹鋒
• 申請（專利權）人: 長安大學
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 西安創知專利事務所 61213
• 代理人: 譚文琰

1.一種采樣誤差自動補償的信號并行交替采樣系統，其特征在于：包括多個A/D轉換芯片（1）、用于輸入多個所述A/D轉換芯片（1）的采樣通道失配誤差的參數輸入單元（2）、多個分別對多個所述A/D轉換芯片（1）的采樣時間進行控制的延時控制電路（3）、多個分別對多個所述A/D轉換芯片（1）所采樣信號進行傅里葉變換處理的數據處理單元（4）、將多個所述數據處理單元（4）處理后的采樣信號以數據陣列形式輸出的多路復用器（5）、根據參數輸入單元（2）所輸入的采樣通道失配誤差對多路復用器（5）所輸出信號進行誤差補償并以數據陣列形式輸出誤差補償后的采樣信號的數據處理器一（6）、對數據處理器一（6）所輸出的誤差補償后的采樣信號進行分析并形成自適應波束且將所形成自適應波束中存在的所有混疊的頻譜分量取出的自適應波束形成器（7）和按頻率大小對所取出的所有混疊的頻譜分量進行排列以獲得重構后采樣信號的數據處理器二（8），多個所述延時控制電路（3）分別與多個所述A/D轉換芯片（1）相接，多個所述A/D轉換芯片（1）分別與多個所述數據處理單元（4）相接，多個所述數據處理單元（4）均與多路復用器（5）相接，所述多路復用器（5）與數據處理器一（6）相接，所述數據處理器一（6）與自適應波束形成器（7）相接，且自適應波束形成器（7）與數據處理器二（8）相接，所述參數輸入單元（2）與數據處理器一（6）相接。?

2.按照權利要求1所述的一種采樣誤差自動補償的信號并行交替采樣系統，其特征在于：還包括與數據處理器一（6）相接的數據存儲模塊一（9）。?

3.按照權利要求1或2所述的一種采樣誤差自動補償的信號并行交替采樣系統，其特征在于：還包括與數據處理器二（8）相接的數據存儲模塊二（10）和計時電路（11），多個所述延時控制電路（3）均由數據處理器二（8）進行控制，且多個所述延時控制電路（3）均與數據處理器二（8）相接。?

4.按照權利要求1或2所述的一種采樣誤差自動補償的信號并行交替采樣系統，其特征在于：所述數據處理器一（6）和數據處理器二（8）均為ARM微處理器。?

5.按照權利要求1或2所述的一種采樣誤差自動補償的信號并行交替采樣系統，其特征在于：還包括分別與數據處理器二（8）相接的參數設置單元（12）和顯示單元（13）。?

6.按照權利要求1或2所述的一種采樣誤差自動補償的信號并行交替采樣系統，其特征在于：所述A/D轉換芯片（1）為芯片AD7723。?

7.按照權利要求1或2所述的一種采樣誤差自動補償的信號并行交替采樣系統，其特征在于：所述A/D轉換芯片（1）為芯片AD9240。?