[實用新型]一種用于銣原子頻標的線寬測量裝置

有效

• 申請號: 201320063873.8
• 申請日: 2013-02-04
• 公開（公告）號: CN203164286U
• 公開（公告）日: 2013-08-28
• 發明（設計）人: 雷海東
• 申請（專利權）人: 江漢大學
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02;H03L7/26
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 徐立

技術領域

本實用新型涉及銣原子頻標領域，特別涉及一種用于銣原子頻標的線寬測量裝置。

背景技術

銣原子頻標能夠提供高穩定度的時間頻率標準。銣原子頻標的輸出頻率的穩定度有以下表達式：

σy(τ)=0.11Q(S/N)·1τ]]>

其中，Q為品質因數，S/N為銣原子頻標中的量子系統的信噪比。一般地，Q值與量子系統的吸收線寬（下文簡稱線寬）相關。因此，為了評估銣原子頻標的穩定度，需要對線寬進行測量?，F有測量線寬的方法為，首先，改變掃頻儀的輸出頻率作用于量子系統，使量子系統完成鑒頻；然后，采用記錄儀來記錄銣原子頻標中的光電檢測環節輸出的鑒頻信號；最后，根據掃頻儀的輸出頻率與記錄儀記錄的鑒頻信號之間的對應關系，計算出線寬。

在實現本實用新型的過程中，發明人發現現有技術至少存在以下問題：

現有測量線寬的方法需要掃頻儀和記錄儀兩套設備，測量方法比較復雜。

實用新型內容

為了解決現有技術的問題，本實用新型實施例提供了一種用于銣原子頻標的線寬測量裝置。所述技術方案如下：

本實用新型實施例提供了一種用于銣原子頻標的線寬測量裝置，所述銣原子頻標包括壓控晶體振蕩器、相敏檢波模塊和微處理器，所述裝置包括：

用于輸出掃頻電壓至所述壓控晶體振蕩器，以使所述壓控晶體振蕩器輸出頻率變化的信號的掃頻控制模塊；用于采集所述相敏檢波模塊輸出的壓控信號的采集模塊；以及，用于記錄所述掃頻控制模塊輸出的所述掃頻電壓的電壓點和所述采集模塊采集的所述壓控信號，并根據所述電壓點與所述壓控信號之間的對應關系，計算出線寬的計算模塊；所述掃頻控制模塊分別與所述壓控晶體振蕩器和所述計算模塊連接，所述采集模塊分別與所述相敏檢波模塊和所述計算模塊連接。

其中，所述掃頻控制模塊、所述采集模塊和所述計算模塊集成在所述微處理器上。

其中，所述裝置還包括用于顯示所述計算模塊計算出的線寬的顯示模塊，所述顯示模塊與所述計算模塊連接。

本實用新型實施例提供的技術方案帶來的有益效果是：通過掃頻控制模塊輸出掃頻電壓至所述壓控晶體振蕩器，采集模塊采集所述相敏檢波模塊輸出的壓控信號；能簡化測量裝置，節約成本；計算模塊記錄輸出的所述掃頻電壓的電壓點和采集的所述壓控信號，并計算出線寬；能夠記錄掃頻電壓和壓控信號，方便計算線寬，使測量方法變得簡單。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是銣原子頻標的結構示意圖；

圖2是本實用新型實施例提供的一種用于銣原子頻標的線寬測量裝置的結構示意圖；

圖3是本實用新型實施例提供的鑒頻曲線的示意圖。

具體實施方式

為使本實用新型的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖對本實用新型實施方式作進一步地詳細描述。

實施例