[實用新型]一種用于三維非接觸測量系統校準的標準裝置有效
| 申請號： | 201320062791.1 | 申請日： | 2013-02-04 |
| 公開（公告）號： | CN203177885U | 公開（公告）日： | 2013-09-04 |
| 發明（設計）人： | 姜志華;楊曉棟;唐冬梅;曾燕華;張波 | 申請（專利權）人： | 上海市計量測試技術研究院 |
| 主分類號： | G01D18/00 | 分類號： | G01D18/00;G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 上海世貿專利代理有限責任公司 31128 | 代理人： | 李浩東 |
| 地址： | 201203 上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 三維 接觸 測量 系統 校準 標準 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于三維非接觸測量系統校準的標準裝置，其特征是：它的測量棒（3）兩端分別連接標準球（1）。
2.根據權利要求1所述的一種用于三維非接觸測量系統校準的標準裝置，其特征是：測量棒（3）的兩端分別經連接件（4）、球支撐（2）連接標準球（1）。
3.根據權利要求1或2所述的一種用于三維非接觸測量系統校準的標準裝置，其特征是：標準球（1）為黑色亞光陶瓷。
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