[實(shí)用新型]太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320061081.7
• 申請(qǐng)日: 2013-01-30
• 公開（公告）號(hào): CN203204148U
• 公開（公告）日: 2013-09-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊洋;武寒松;王力
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 楊洋
• 主分類號(hào): G01S7/41
• 分類號(hào): G01S7/41
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置，其特征在于：

?包括光學(xué)實(shí)驗(yàn)臺(tái)（1），所述光學(xué)實(shí)驗(yàn)臺(tái)（1）上設(shè)置自動(dòng)旋轉(zhuǎn)光學(xué)平臺(tái)（2）、龍門架（3）、運(yùn)動(dòng)控制器（4）、太赫茲波源（5）、透鏡（6）以及數(shù)據(jù)讀取裝置（7）；

所述龍門架（3）橫跨所述自動(dòng)旋轉(zhuǎn)光學(xué)平臺(tái)（2），所述龍門架（3）上設(shè)置水平的滑軌（8），所述滑軌（8）上連接一立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)（9），所述立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)（9）上設(shè)置被測(cè)物；

所述自動(dòng)旋轉(zhuǎn)光學(xué)平臺(tái)（2）上設(shè)置探測(cè)器（10），所述透鏡（6）設(shè)置在所述太赫茲波源（5）出射口，所述立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)（9）可調(diào)節(jié)方向，所述探測(cè)器（10）設(shè)置在所述立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)（9）散射光射出的方向，所述探測(cè)器（10）與所述數(shù)據(jù)讀取裝置（7）電連接。

2.如權(quán)利要求1所述太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置，其特征在于：

所述太赫茲波源（5）為返波管振蕩器源，所述探測(cè)器（10）為焦熱電探測(cè)器，所

述透鏡（6）為聚四氟乙烯透鏡。

3.如權(quán)利要求1所述太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置，其特征在于：

所述運(yùn)動(dòng)控制器（4）包括CPU、液晶顯示器（12）以及操作鍵盤（13）。

4.如權(quán)利要求1所述太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置，其特征在于：

所述龍門架（3）的兩側(cè)架上設(shè)置有尺寸刻度。

5.如權(quán)利要求1所述太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置，其特征在于：

所述自動(dòng)旋轉(zhuǎn)光學(xué)平臺(tái)（2）由細(xì)分步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，其精度達(dá)到0.005?r，轉(zhuǎn)速為20?r/S。

6.如權(quán)利要求1所述太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置，其特征在于：

所述立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)（9）通過一調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)（15）與所述滑軌（8）連接，并采用渦輪蝸桿機(jī)構(gòu)傳動(dòng)，所述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)（15）下部連接立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)（9）。

7.如權(quán)利要求1所述太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置，其特征在于：

所述自動(dòng)旋轉(zhuǎn)光學(xué)平臺(tái)（2）上設(shè)置有用于固定光學(xué)部件的螺孔（17）。

8.如權(quán)利要求1所述太赫茲目標(biāo)散射特性測(cè)試裝置，其特征在于：

所述太赫茲波源（5）與所述透鏡（6）之間設(shè)置一斬波器（18）。