[實用新型]電子元件測試裝置的偏心彈簧

有效

• 申請號: 201320051064.5
• 申請日: 2013-01-29
• 公開（公告）號: CN203148988U
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發明（設計）人: 林信忠;陳威助;游輝哲
• 申請（專利權）人: 中國探針股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/073
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術領域

本實用新型涉及一種彈簧，特別是關于一種應用于電子元件測試裝置內的偏心彈簧。

背景技術

一般半導體晶片（電子元件）的內部具有一集成電路，且該集成電路向外延伸設有復數個引腳或電極，通常會針對該復數個引腳或該復數個電極進行各項的電氣特性測試。通常，廠商會依據最接近實際操作使用時的狀態，制作出相對應的一電子元件測試裝置，以便完整模擬真實操作使用時的環境而進行測試。

請參閱圖1、圖2，是一般電子元件測試裝置的結構示意圖及其操作時的狀態示意圖。如圖中所示，用來檢測四方扁平封裝半導體（Quad?Flat?Package,QFP）的電子元件測試裝置1，其中該QFP由一基材的四個側面分別延伸設有復數個引腳而呈現海鷗翼(L)型。該種電子元件測試裝置1包括一座體11、一蓋體12、一承載臺13、復數個彈性元件14及復數個探針單元15，其中該該座體11及該蓋體12對合設置，且于中央部位對應形成一容置空間111，以供容置該承載臺13及該復數個彈性元件14，該承載臺13平均靠抵于該復數個彈性元件14上而活動設于該容置空間111內，該每一探針單元15分別活動設置于該座體11及該蓋體12之間，而每一探針單元15又包含一外管151、一彈簧152及一探針頭153，該探針頭153連同該彈簧152而活動套設于該外管151內，使該探針頭153的一接觸端1531穿出該外管151。檢測時，將該QFP2平均置于該承載臺13上，通過適當壓力下壓該QFP2連同該承載臺13，進而檢測該復數個引腳21是否能夠與該每一探針頭153的該接觸端1531相抵靠接觸，進一步達到檢測其電氣導通狀態的目的。

然而，該電子元件測試裝置1進行檢測時的準確性，由于該探針頭153通過該彈簧152與該外管151作電性導通，故該探針頭153及該彈簧152的設計方式，例如：該探針頭153導電性不佳，或是該彈簧152無法提供有效的支撐效果及更高頻寬的測試，均有可能影響其準確性。一般而言，該彈簧152多選用呈單一圓徑的直線彈簧，或選用呈多段不同圓徑的同心直線彈簧，當該探針頭153受壓，并壓縮該彈簧152而造成彎曲形變，使該彈簧152無法與該外管151的內壁面保持有效的抵靠接觸，也即抵靠接觸面積及抵靠接觸位置無法固定而導致阻抗的改變；但是，其阻抗越低則越不容易影響檢測效果，但無法保持有效的抵靠接觸，是傳統的該彈簧152最大的缺點，故有必要加以改良。

發明內容

有鑒于此，本實用新型的一目的，旨在提供一種電子元件測試裝置的偏心彈簧，俾于該偏心彈簧設有一第一繞線部，以及延伸自該第一繞線部外周緣的一第二繞線部，該第二繞線部偏心設置于該第一繞線部的一端，該偏心彈簧受壓后，該第二繞線部變形量會大于該第一繞線部，使該第一繞線部及該第二繞線部朝同一側彎曲變形，其表面能夠加大與一外管的內壁面的抵靠接觸面積，以降低阻抗而避免檢測時的誤差。

為達上述目的，本實用新型的電子元件測試裝置的偏心彈簧，其中該電子元件測試裝置由一座體、一蓋體、一承載平臺、復數個彈性元件及復數個探針單元所組成，該每一探針單元至少包括一外管、該偏心彈簧及一探針頭，利用該復數個探針單元接觸該電子元件的各針腳時，以檢測該每一針腳的電氣導通狀態，其特征在于：該偏心彈簧對應該外管設有一第一繞線部，該第一繞線部具有一第一中心軸，且于該偏心彈簧的其中一端設有一第二繞線部，該第二繞線部對應該第一中心軸而具有一第二中心軸，且該第一中心軸與該第二中心軸之間具有一第一設定間隔，使該第一繞線部及該第二繞線部的一側邊與該外管的內管壁相抵靠接觸。

其中，該第一繞線部具有一第一圓徑且該第二繞線部具有一第二圓徑且該第一圓徑與該第二圓徑的比值介于1.5～3。再者，該第一繞線部及該第二繞線部的表面設有一導電金屬層，故能有效提升其導電性。

于一實施例中，本實用新型的該電子元件測試裝置的偏心彈簧，除原有的該第一繞線部及該第二繞線部外，還具有一第三繞線部，而設于該第一繞線部的另一端，且該第三繞線部具有一第三中心軸，該第一中心軸與該第三中心軸之間具有一第二設定間隔。再者，該第一繞線部具有一第一圓徑且該第三繞線部具有一第三圓徑且該第一圓徑與該第三圓徑的比值介于1.5～3。并且，在該第一繞線部及該第三繞線部的表面設有一導電金屬層，也能有效提升其導電性。

與現有技術相比較，本發明具有的有益效果是：使用時，該探針頭受到該引腳的壓迫而壓縮該偏心彈簧，進一步造成該偏心彈簧的彎曲形變，由于該偏心彈簧的該第二繞線部及該第三繞線部的圓徑小于該第一繞線部，受壓時會比較容易產生彎曲形變，且其彎曲形變時的方向也能被控制，故能與該外管的內壁面保持有效的抵靠接觸，避免阻抗升高。