[實(shí)用新型]一種DC-DC探針卡板

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320029011.3
• 申請(qǐng)日: 2013-01-18
• 公開（公告）號(hào): CN203133129U
• 公開（公告）日: 2013-08-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 朱雪山
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 揚(yáng)州芯際半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/073
• 分類號(hào): G01R1/073
• 代理公司: 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212
• 代理人: 趙秀斌

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種探針卡板，尤其涉及一種DC-DC探針卡板。

背景技術(shù)

目前，DC-DC開關(guān)電源以小型、輕量和高效率的特點(diǎn)被廣泛應(yīng)用于以電子計(jì)算機(jī)為主導(dǎo)的各種終端設(shè)備、通信設(shè)備等幾乎所有的電子設(shè)備，是當(dāng)今電子信息產(chǎn)業(yè)飛速發(fā)展不可缺少的一種電源方式,所以很多設(shè)計(jì)公司設(shè)計(jì)出很多高性能的產(chǎn)品，各個(gè)產(chǎn)品之間的性能差異必須需要通過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試才能區(qū)分出來(lái)，這無(wú)疑給測(cè)試提出了很多要求。特別是CP測(cè)試，由于芯片在CP階段需要對(duì)產(chǎn)品的精度進(jìn)行修調(diào)，而且還要對(duì)其負(fù)載能力、效率、低壓差等特性進(jìn)行嚴(yán)格測(cè)試，所以針對(duì)這些測(cè)試難題，我們專門開發(fā)設(shè)計(jì)了DC-DC探針卡板，從而保證測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種新設(shè)計(jì)的DC-DC探針卡板，滿足了DC-DC類電路針卡的需要。

本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)方案如下：一種DC-DC探針卡板，包括Trim針區(qū)、Trim控制繼電器焊接位、Trim電容焊接位、電容放電位、外圍控制繼電器區(qū)、功能PAD焊接區(qū)、測(cè)試外圍器件區(qū)，所述Trim針區(qū)設(shè)有19根針，所述相鄰的兩根Trim針之間設(shè)有地線，所述功能PAD焊接區(qū)設(shè)有四個(gè)，所述每個(gè)功能PAD焊接區(qū)中均設(shè)有1個(gè)或1個(gè)以上的焊點(diǎn)，所述外圍控制繼電器區(qū)設(shè)有兩個(gè)，所述測(cè)試外圍器件區(qū)通過(guò)兩個(gè)外圍控制繼電器區(qū)與其中一個(gè)大的功能PAD焊接區(qū)相連，所述Trim控制繼電器焊接位、Trim電容焊接位與兩個(gè)外圍控制繼電器區(qū)同時(shí)相連，所述電容放電位與所述Trim電容焊接位相連。

DC-DC類電路在晶圓測(cè)試中基本都需要做trim來(lái)調(diào)整電壓值，trim是一種通過(guò)增加或減少芯片內(nèi)部電阻或電容接入數(shù)量而更改芯片輸出的一種設(shè)計(jì)工藝，trim一般采用電容充放電方式來(lái)完成的，trim?pad一般比較多，外圍也就很多，稍有不甚就會(huì)燒毀電路，重新設(shè)計(jì)的DC-DC探針卡板將trim部分做成了pcb,只要對(duì)應(yīng)的焊上電容和繼電器就好了，減少了焊線的工作量，也就減少了人為的失誤，焊針區(qū)最多可焊19根trim針，滿足了trim針的需要。Trim針周圍有一圈地線，起到信號(hào)屏蔽作用，防止干擾測(cè)試。下部有四個(gè)大的功能PAD焊接區(qū)域供DC-DC的功能腳VCC、VOU、GND、EN使用。在測(cè)試時(shí)，有的產(chǎn)品需要帶很大的負(fù)載，這樣導(dǎo)線和探針上阻值對(duì)測(cè)試就有很大影響，解決的方法是在四個(gè)功能PAD焊接區(qū)置多根針，增大接觸面積，減小接觸阻抗，加粗導(dǎo)線，功能PAD焊接區(qū)就也方便探針的定位和導(dǎo)線的焊接。DC-DC類電路在測(cè)試時(shí)一般需要加一些外圍器件，但這些器件對(duì)一些測(cè)試項(xiàng)有影響，所以需要增加繼電器斷開這些外圍，從而更準(zhǔn)確的測(cè)試出電路的參數(shù)性能。

本實(shí)用新型的有益效果是：在將新設(shè)計(jì)的DC-DC探針卡板，操作方便，測(cè)試精度高，保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型一種DC-DC探針卡板的結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖中，各標(biāo)號(hào)所代表的部件列表如下：

1、Trim針區(qū)，2、地線，3、trim控制繼電器焊接位，4、trim電容焊接位，5、電容放電位，6、外圍控制繼電器區(qū)，7、功能PAD焊接區(qū)，8、測(cè)試外圍器件區(qū)。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的原理和特征進(jìn)行描述，所舉實(shí)例只用于解釋本實(shí)用新型，并非用于限定本實(shí)用新型的范圍。

如圖1所示，一種DC-DC探針卡板，包括Trim針區(qū)1、Trim控制繼電器焊接位3、Trim電容焊接位4、電容放電位5、外圍控制繼電器區(qū)6、大的功能PAD焊接區(qū)7、測(cè)試外圍器件區(qū)8，所述Trim針區(qū)1設(shè)有19根針，所述相鄰的兩根Trim針1之間設(shè)有地線2，所述功能PAD焊接區(qū)7設(shè)有四個(gè)，所述每個(gè)功能PAD焊接區(qū)7中均設(shè)有1個(gè)或1個(gè)以上的焊點(diǎn)，所述外圍控制繼電器區(qū)6設(shè)有兩個(gè)，所述測(cè)試外圍器件區(qū)8通過(guò)兩個(gè)外圍控制繼電器區(qū)6與其中一個(gè)功能PAD焊接區(qū)7相連，所述Trim控制繼電器焊接位3、Trim電容焊接位4與兩個(gè)外圍控制繼電器區(qū)6同時(shí)相連，所述電容放電位5與所述Trim電容焊接位4相連。

在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們根據(jù)實(shí)際芯片，

一、將所需trim?PAD焊在Trim針區(qū)1區(qū)域，功能PAD焊在功能PAD焊接區(qū)7區(qū)域；

二、將區(qū)域trim控制繼電器焊接位3，和trim電容焊接位4對(duì)應(yīng)的繼電器和電容焊接好；

三、將外圍控制繼電器區(qū)6區(qū)域中對(duì)應(yīng)的繼電器焊接好；

四、將測(cè)試外圍器件區(qū)8中對(duì)應(yīng)的外圍焊接好；

五、根據(jù)芯片trim特性，將芯片的trim部分（Trim針區(qū)1）引線到對(duì)應(yīng)的電容放電為5上；