[實用新型]一種基于級聯馬赫曾德干涉儀的光譜相位校準系統有效
| 申請號: | 201320028638.7 | 申請日: | 2013-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN203016921U | 公開(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發明(設計)人: | 王玲;丁志華;沈毅;顏楊志;吳開華 | 申請(專利權)人: | 杭州電子科技大學 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 杜軍 |
| 地址: | 310018 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 級聯 馬赫 干涉儀 光譜 相位 校準 系統 | ||
1.一種基于級聯馬赫曾德干涉儀的光譜相位校準系統,包括光源、寬帶光纖耦合器、光譜相位校準臂、OCT主干涉儀、OCT干涉光譜信號探測裝置、數據采集卡、計算機,其特征在于:掃頻光源(1)發出的低相干光進入第一寬帶光纖耦合器(2),經分光后分別進入光譜相位校準臂和OCT主干涉儀,所述OCT主干涉儀的樣品臂和參考臂共路;所述共路的樣品臂和參考臂包括寬帶光纖環行器(5)、準直鏡(6)、掃描振鏡(7)、聚焦透鏡(8)、分光板或者一面鍍增透膜的薄蓋波片(9)以及樣品(10),第二寬帶光纖耦合器(4)第一輸出端與寬帶光纖環行器(5)的第一端相連,寬帶光纖環行器(5)第二端的光經過準直鏡(6)、掃描振鏡(7)和聚焦透鏡(8)后,投射在樣品(10)上,分光板或蓋波片(9)參考平面反射的光和樣品后向散射的光匯合后干涉;所述的OCT干涉光譜信號探測裝置為平衡探測器(12),參考平面反射的光和樣品后向散射光匯合后形成OCT干涉光譜信號,通過寬帶光纖環行器(5)的第三端進入第三寬帶光纖耦合器(11)的一個輸入端,第三的寬帶光纖耦合器(11)的另一輸入端和第二寬帶光纖耦合器(4)的第二輸出端相連,第三寬帶耦合器(11)的兩路輸出端分別與平衡探測器(12)的兩路輸入端相連,平衡探測器(12)探測的信號經數據采集卡(13)和計算機(14)進行數據采集和數據處理,第一寬帶光纖耦合器(2)分光后的低相干光經過光譜相位校準臂,所述光譜相位校準臂包括級聯馬赫曾德干涉儀(3),所述級聯馬赫曾德干涉儀(3)能形成一路MZI光譜相位校準信號,同時提供光程差為d1的第一參考干涉信號和光程差為?d2的第二參考干涉信號,經數據采集卡和計算機進行數據采集和數據處理。
2.根據權利要求1所述的一種基于級聯馬赫曾德干涉儀的光譜相位校準系統,其特征在于:所述的光譜相位校準臂為級聯馬赫曾德干涉儀,由三個分光比為1:1的2×2單模光纖耦合器和級聯馬赫曾德干涉儀平衡探測器組成,連接臂?l1、l2把第一個耦合器(15)和第二個耦合器(16)連接在一起,連接臂?l3、l4把第二個耦合器(16)和第三個耦合器(17)連接在一起,第三耦合器(17)與級聯馬赫曾德干涉儀平衡探測器(18)連接。
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