[實用新型]一種微弱光檢測儀的暗室

有效

• 申請號: 201320023428.9
• 申請日: 2013-01-05
• 公開（公告）號: CN203100894U
• 公開（公告）日: 2013-07-31
• 發明（設計）人: 譚永紅;申玲
• 申請（專利權）人: 北京濱松光子技術股份有限公司
• 主分類號: G01J1/02
• 分類號: G01J1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及一種微弱光檢測儀的暗室，屬于微弱光探測領域。

微弱光檢測儀采用先進的光子計數檢測技術，可實現對極微弱光信號的探測，故儀器的避光處理成為設計的重點。對于微弱光檢測儀，現有技術中采用儀器外殼整體避光的方式，完全通過儀器外殼隔絕外部全部可見光。測試樣品時，需要打開翻蓋，將待測品放入相應管位，然后將儀器的上殼與下殼閉合。為了達到更好的避光效果，一般將上、下殼銜接處設計成凹凸槽結構，如圖1所示，當上殼10與下殼20閉合時，上殼的凸槽11扣進下殼的凹槽22內，起到了更好避光的效果。

然而，依靠儀器外殼整體避光的方法存在一定缺陷，因為儀器內部的某些器件帶有指示燈(例如電機驅動器)或其它發光器件，甚至儀器外殼上有時需要安裝指示燈等發光器件，這些都會對測試產生弱光影響，從而影響儀器探頭測試的本底值。

本實用新型的目的在于克服現有技術中的上述不足，提供一種微弱光檢測儀的暗室，以消除儀器內部器件產生的光帶來的干擾。

本實用新型的目的是通過以下方式實現的：

一種微弱光檢測儀的暗室，包括樣品轉盤1、軸承套2、暗室底盤3、螺栓套4、支架5、軸6、暗室蓋7、電機8、支柱9，其特征在于：暗室蓋7與暗室底盤3扣合在一起形成暗室，樣品轉盤1被密封在所述暗室內；

所述微弱光檢測儀的暗室，其特征在于：暗室蓋7上面設有環形孔70，并且暗室底盤3上的光采集口30設在環形孔70的對角線上；

所述微弱光檢測儀的暗室，其特征在于：軸承套2與暗室底盤3的銜接處涂有密封膠；

所述微弱光檢測儀的暗室，其特征在于：樣品轉盤1與軸6螺釘連接，通過軸承套2固定在電機8的轉軸上。

與現有技術相比，本實用新型的暗室結構有效地屏蔽了儀器內部某些器件發光的影響，保證了儀器本底值的正常。此外，采用暗室結構降低了外殼加工的難度，從而降低了外殼成本。

圖1為現有技術中微弱光檢測儀的整體避光結構示意圖；

圖1為現有技術中微弱光檢測儀的整體避光結構示意圖；

圖2為本實用新型中微弱光檢測儀的暗室結構示意圖；

圖3為本實用新型中暗室蓋與暗室底盤的凹凸扣合結構放大圖；

圖4為本實用新型中環形孔和光采集口的位置關系示意圖；

圖5為本實用新型中環形孔的結構示意圖。

下面結合附圖具體說明本實用新型的實施方式。

如圖2所示，本實用新型中微弱光檢測儀的暗室結構，包括：樣品轉盤1、軸承套2、暗室底盤3、螺栓套4、支架5、軸6、暗室蓋7、電機8、支柱9。支架5固定在支柱9上，支架5支撐暗室底盤3，暗室蓋7與暗室底盤3通過凹凸槽結構扣合在一起形成暗室，樣品轉盤1被密封在暗室內。樣品轉盤1與軸6螺釘連接，通過軸承套2固定在電機8的轉軸上，軸承套2起支撐和密封作用。軸承套2通過螺栓套4固定在支架5上。同時，電機也固定在支架5上。

如圖4所示，暗室蓋7上設有環形孔70，以便將樣品放入樣品轉盤內。環形孔70的結構如圖5所示。暗室底盤3上設有光采集口30，由光采集口30引出光纖與探測器相連。微弱光檢測儀工作時，電機8通電旋轉，通過軸6帶動樣品轉盤1旋轉，微弱光檢測儀對位于光采集口30處的樣品進行測試。

為了使暗室避光的效果更好，應做好以下細節工作：

(1)在軸承套2與暗室底盤3的銜接處涂少量密封膠；

(2)將暗室蓋7與暗室底盤3的扣合處設計成凹凸槽結構，如圖3所示：71為暗室蓋7的下邊緣，31為暗室底盤3的下邊緣，兩者通過凹凸槽結構扣合在一起；

(3)為了將暗室蓋7上面的環形孔70的漏光影響降到最低，需要將暗室底盤3上的光采集口30設在環形孔70的對角線上，如圖4所示。

雖然暗室蓋上面設有環形孔，但由于光采集口設在環形孔的對角線上，經大量測試數據顯示，對儀器本底值無任何影響。