[實用新型]一種電芯短路測試機構

有效

• 申請號: 201320022092.4
• 申請日: 2013-01-15
• 公開（公告）號: CN203012070U
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發明（設計）人: 何蘇平;章陽光
• 申請（專利權）人: 東莞市久森新能源有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R1/067
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 廖平

技術領域

本實用新型涉及一種電芯短路測試機構。

背景技術

目前，在采用現有的測試機構對電芯進行短路測試時，由于現有測試機構探針的接觸端過于尖銳，當探針下壓時，探針的接觸端與電芯的極耳為點接觸，電芯的極耳容易被刺傷、壓彎變形，從而損壞電芯。

實用新型內容

針對現有技術的不足，本實用新型的目的旨在于提供一種電芯短路測試機構，其能避免電芯的極耳被探針刺傷、壓彎變形，防止損壞電芯。

為實現上述目的，本實用新型采用如下技術方案：

一種電芯短路測試機構，包括：測試臺，固定在測試臺上的極耳定位板，位于極耳定位板上方并由一升降裝置驅動其上下活動的活動座，以及上端固定連接在活動座上的正極探針、負極探針、電芯殼體探針；其中，所述升降裝置固定在測試臺上，正極探針和負極探針的下端均連接有一位于極耳定位板上方的探針接觸板。

其中，所述升降裝置為氣缸。

其中，所述探針接觸板為方形、圓形或橢圓形。

本實用新型所闡述的一種電芯短路測試機構，其有益效果在于：

與現有技術相比，本實用新型通過在正極探針和負極探針的下端連接探針接觸板，增大了正極探針和負極探針接觸電芯極耳的接觸面，測試時正極探針、負極探針與電芯極耳的接觸為面接觸，能避免電芯的極耳被正極探針或負極探針刺傷，并且由極耳定位板在正極探針和負極探針下壓時支撐電芯極耳，能避免電芯極耳被壓彎變形，從而防止損壞電芯，有效提升了電芯的品質。?

附圖說明

圖1是本實用新型實施例的結構示圖。

附圖標記說明：

10、測試臺；20、極耳定位板；30、活動座；40、正極探針；50、負極探針；60、電芯殼體探針；70、探針接觸板。

具體實施方式

下面結合附圖與具體實施例來對本實用新型作進一步描述。

請參照圖1所示，其顯示出了本實用新型較佳實施例的具體結構，一種電芯短路測試機構，包括測試臺10、極耳定位板20、活動座30、正極探針40、負極探針50以及電芯殼體探針60，其中：

所述極耳定位板20固定在測試臺10上，用于支撐電芯極耳。

所述活動座30位于極耳定位板20的上方，并由一升降裝置（未圖示）驅動該活動座30上下活動，升降裝置固定在測試臺10上，其可為氣缸、液壓缸或者電動缸。

所述正極探針40、負極探針50和電芯殼體探針60的上端均固定連接在活動座30上，并且，正極探針40和負極探針50的下端還都連接有一位于極耳定位板20上方的探針接觸板70，探針接觸板70為方形、圓形或者橢圓形，也可以是其它的形狀，用于防止正極探針40或負極探針50刺傷電芯極耳。

使用時，將電芯放在極耳定位板20上，驅動裝置驅動活動座30下降，正極探針40下壓使正極探針40下端的探針接觸板70與電芯正極極耳接觸，負極探針50下壓使負極探針50下端的探針接觸板70與電芯負極極耳接觸，電芯殼體探針60下壓與電芯外殼接觸，由于探針接觸板70的存在，增大了正極探針40和負極探針50接觸電芯極耳的接觸面，測試時正極探針40、負極探針50與電芯極耳的接觸為面接觸，能避免電芯的極耳被正極探針40或負極探針50刺傷，并且由于極耳定位板20在正極探針40、負極探針50下壓時支撐電芯極耳，能避免電芯極耳被壓彎變形，從而防止損壞電芯，有效提升了電芯的品質。

以上所述，僅是本實用新型較佳實施例而已，并非對本實用新型的技術范圍作任何限制，故凡是依據本實用新型的技術實質對以上實施例所作的任何細微修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實用新型技術方案的范圍內。