[實用新型]一種用于光電耦合器的檢驗裝置有效

申請號：	201320010175.1	申請日：	2013-01-09
公開（公告）號：	CN203084119U	公開（公告）日：	2013-07-24
發明（設計）人：	任廣清	申請（專利權）人：	長春迪瑞醫療科技股份有限公司
主分類號：	G01R31/00	分類號：	G01R31/00
代理公司：	深圳市君勝知識產權代理事務所 44268	代理人：	楊宏
地址：	130012 吉林省長***	國省代碼：	吉林;22
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種用于光電耦合器檢驗裝置
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【權利要求書】：

1.一種用于光電耦合器的檢驗裝置，其包括底板，其特征在于，所述底板的兩端分別設置有導柱，導柱上設置有定位板，所述定位板上設置有用于放置光電耦合器的工位，所述工位上設置有限位塊，導柱上端設置有引腳安裝板，所述引腳安裝板兩端分別設置有能沿導柱滑動的滑塊，所述引腳安裝板與所述定位板之間的導柱上分別設置有彈性部件。

2.根據權利要求1所述的檢驗裝置，其特征在于，導柱上端設置有用于限制滑塊活動范圍的固定螺釘。

3.根據權利要求1所述的檢驗裝置，其特征在于，所述底板與所述工位對應處設置有用于感應光電耦合器的感應片。

4.根據權利要求1所述的檢驗裝置，其特征在于，所述引腳安裝板上設置有四個引腳，引腳穿過所述引腳安裝板；所述引腳安裝板處于下壓狀態，引腳與設置在所述工位上的光電耦合器相連接。

5.根據權利要求1所述的檢驗裝置，其特征在于，所述彈性部件為彈簧。

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