[實(shí)用新型]一種光模塊調(diào)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320005518.5
• 申請(qǐng)日: 2013-01-06
• 公開（公告）號(hào): CN203261333U
• 公開（公告）日: 2013-10-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葛君;張華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 青島海信寬帶多媒體技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): H04B10/073
• 分類號(hào): H04B10/073
• 代理公司: 北京市京大律師事務(wù)所 11321
• 代理人: 黃啟行;方曉明

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及光纖通信技術(shù)，尤其涉及一種光模塊調(diào)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

日前光通信市場正處于飛速發(fā)展階段，隨著技術(shù)的成熟和市場對(duì)帶寬的需求，光纖通信系統(tǒng)已開始規(guī)模應(yīng)用并逐步進(jìn)入千家萬戶。進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的光模塊則是光纖通信系統(tǒng)中的核心部件，應(yīng)用在光纖通信系統(tǒng)中的多種設(shè)備中，如OLT（Optical?Line?Terminator，光線路終端）、ONU（optical?net?unit，光網(wǎng)絡(luò)單元）、光端機(jī)等。

光模塊在出廠、被安裝到光纖通信系統(tǒng)之前，需要經(jīng)過調(diào)試過程。光模塊的調(diào)試過程在廠家的調(diào)試生產(chǎn)線上進(jìn)行，主要是將出廠的光模塊發(fā)射激光的光功率和消光比調(diào)試在一個(gè)合適的范圍。

目前現(xiàn)有技術(shù)的調(diào)試生產(chǎn)線上的調(diào)試系統(tǒng)，如圖1所示，包括：調(diào)試主機(jī)（可以是PC機(jī)）、通信板、誤碼儀、光功率計(jì)、被調(diào)試光模塊。

調(diào)試主機(jī)通過通信板與被調(diào)試光模塊的MCU（Microprogrammed?ControlUnit，微程序控制單元）通信；具體地，調(diào)試主機(jī)可以是PC機(jī)，其與通信板之間通過USB（Universal?Serial?Bus，通用串行總線）接口通信，通信板與被調(diào)試光模塊的MCU之間通過IIC總線通信；調(diào)試主機(jī)通過USB接口向通信板發(fā)送指令和數(shù)據(jù)，通信板接收到調(diào)試主機(jī)發(fā)送的指令和數(shù)據(jù)后，通過IIC（Inter-Integrated?Circuit，交互集成電路）總線將指令和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)到光模塊的MCU，從而實(shí)現(xiàn)調(diào)試主機(jī)對(duì)光模塊的控制。

調(diào)試主機(jī)還與光功率計(jì)和誤碼儀通信，用以控制光功率計(jì)和誤碼儀，或從光功率計(jì)和誤碼儀讀取數(shù)據(jù)。

現(xiàn)有技術(shù)的調(diào)試系統(tǒng)的調(diào)試過程為：調(diào)試主機(jī)控制誤碼儀的輸出高頻的差分電信號(hào)作為數(shù)據(jù)電信號(hào)發(fā)送到被調(diào)試光模塊；

被調(diào)試光模塊接收到誤碼儀發(fā)送的數(shù)據(jù)電信號(hào)后，將接收的數(shù)據(jù)電信號(hào)轉(zhuǎn)換為光信號(hào)后進(jìn)行發(fā)射；

光功率計(jì)檢測被調(diào)試光模塊發(fā)射的光信號(hào)的光功率；

調(diào)試主機(jī)從光功率計(jì)讀取檢測的光功率值，并根據(jù)讀取的光功率值通過通信板向被調(diào)試光模塊的MCU中的DCB?current?DAC寄存器寫入數(shù)據(jù)，用以調(diào)整被調(diào)試光模塊中的驅(qū)動(dòng)電路輸出到激光器的偏置電流，從而調(diào)整了被調(diào)試光模塊發(fā)射的激光的光功率。

在調(diào)試主機(jī)從光功率計(jì)讀取的光功率值達(dá)到期望的光功率值P0后，則停止調(diào)整被調(diào)試光模塊的MCU中的DCB?current?DAC寄存器中的數(shù)據(jù)，完成該被調(diào)試光模塊的光功率的調(diào)試。

之后，進(jìn)行被調(diào)試光模塊的消光比的調(diào)試：

調(diào)試主機(jī)通過通信板向被調(diào)試光模塊的MCU中的Mod?current?DAC寄存器寫入數(shù)據(jù)，用以調(diào)整被調(diào)試光模塊中的驅(qū)動(dòng)電路輸出到激光器的調(diào)制電流；調(diào)試主機(jī)逐漸加大寫入Mod?current?DAC寄存器的數(shù)據(jù)，從而逐漸加大被調(diào)試光模塊中的驅(qū)動(dòng)電路輸出到激光器的調(diào)制電流；當(dāng)調(diào)試主機(jī)從光功率計(jì)讀取的光功率值達(dá)到期望的光功率值P1后，停止調(diào)整被調(diào)試光模塊的MCU中的Mod?current?DAC存器中的數(shù)據(jù)，完成該被調(diào)試光模塊的消光比的調(diào)試。

現(xiàn)有技術(shù)的調(diào)試方法由于需要采用誤碼儀、光功率計(jì)等較為昂貴的設(shè)備，對(duì)于批量生產(chǎn)和調(diào)試光模塊的生成線，則需要投入大量的資金和成本；因此，現(xiàn)有技術(shù)的光模塊調(diào)試系統(tǒng)和調(diào)試方法具有較高的成本。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的實(shí)施例提供了一種光模塊調(diào)試系統(tǒng)，用以降低光模塊的調(diào)試成本。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種光模塊調(diào)試系統(tǒng)，包括：

調(diào)試板，其包括差分晶振，用以為安裝于所述調(diào)試板上的被調(diào)試光模塊提供數(shù)據(jù)電信號(hào)；

調(diào)試通信主板，其包括單片機(jī)和監(jiān)控光模塊，所述監(jiān)控光模塊通過光纖與所述被調(diào)試光模塊相連，其通過光電二極管探測所述被調(diào)試光模塊接收所述數(shù)據(jù)電信號(hào)后發(fā)射的光信號(hào)，并檢測所述光電二極管探測到光信號(hào)后所產(chǎn)生的響應(yīng)電流；所述單片機(jī)通過第一總線與所述被調(diào)試光模塊的MCU通信，通過第二總線與所述調(diào)試光模塊的MCU通信；

調(diào)試主機(jī)，與所述單片機(jī)通過通信總線連接，所述調(diào)試主機(jī)通過所述單片機(jī)獲取所述監(jiān)控光模塊檢測的響應(yīng)電流；根據(jù)獲取的響應(yīng)電流計(jì)算光功率；根據(jù)計(jì)算的光功率通過所述單片機(jī)調(diào)整被調(diào)試光模塊中的偏置電流，進(jìn)行所述被調(diào)試光模塊的光功率的調(diào)試。

進(jìn)一步，所述調(diào)試主機(jī)在完成所述被調(diào)試光模塊的光功率的調(diào)試后，根據(jù)計(jì)算的光功率通過所述單片機(jī)調(diào)整被調(diào)試光模塊中的調(diào)制電流，進(jìn)行所述被調(diào)試光模塊的消光比的調(diào)試。