[發明專利]用于斷裂韌度的施力點位移和缺口張開位移的測量方法有效
| 申請號: | 201310755294.4 | 申請日: | 2013-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN103697823A | 公開(公告)日: | 2014-04-02 |
| 發明(設計)人: | 陳旭;張喆;陳剛;李珞;石磊 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人: | 王麗 |
| 地址: | 300072 天*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 斷裂 韌度 施力 位移 缺口 張開 測量方法 | ||
1.用于斷裂韌度的施力點位移和缺口張開位移的測量方法;其特征是基于面陣電荷藕合器件圖像傳感器CCD視覺系統,采用非接觸測量方法,通過對像素的捕捉得到變形信號,信號通過圖像處理和單元處理,并從圖像處理軟件中讀出,得到施力點位移和缺口張開位移。
2.如權利要求1所述的方法,其特征是CCD視覺系統包括:鏡頭、CCD相機、圖像處理單元以及圖像處理軟件。
3.如權利要求1或2所述的方法,其特征是采用標準試件做實驗,在標記紙上用兩個黑色實心圓分別標記在已有裂紋缺口兩側,并對標記位置進行定位;實驗時,通過黑白像素捕捉兩個圓的邊界,計算出實心圓的圓心,可以測出兩個圓心之間距離的變化,即為缺口張開位移V1;同理,在靠近裂紋擴展方向再標記兩個實心圓,同時測出第二組缺口張開位移V2,通過公式(1)可計算出施力點位移;
其中,x1為試件未變形前標記成像點之間的像素值,x2為變形后試件標記成像點之間像素值,V0為標記間距離,V為試驗結束后標記點處移動的凈位移。
4.如權利要求2所述的方法,其特征是標記位置不能超出已有的裂紋缺口長度。
5.如權利要求1或2所述的方法,其特征是試件經過穩定的面光源照射后經光學鏡頭成像于CCD相機;標記為白色紙上的黑色實心圓分別貼在試件的裂紋兩側,A、B、C、D分別代表四個實心圓的圓心,實驗前先測量出AB和CD標記間的實際距離,A、B、C、D點到試件邊緣的距離,測量取平均后為z1和z2;通過黑白像素捕捉實心圓的邊界,從而自動確定實心圓的圓心,實驗開始前自動記錄兩個圓心之間的像素值,實驗開始后可以實時監測圓心之間變形后的像素值,通過公式(1)計算,可以得到實際的位移值,即V1和V2。缺口張開位移可用V1或V2表示,當裂紋嘴張開角度小于8°時,施力點位移q可由公式(3)計算得到,當裂紋嘴張開角度大于或等于8°時,施力點位移q可由公式(4)計算得到。
其中,S代表試件的跨距。
6.如權利要求5所述的方法,其特征是當標記在試件外部時,z1和z2為正,當標記在試件上時,z1和z2取負。
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