[發明專利]顯示面板的檢測電路、顯示面板及其檢測方法

有效

• 申請號: 201310754377.1
• 申請日: 2013-12-31
• 公開（公告）號: CN103926717A
• 公開（公告）日: 2014-07-16
• 發明（設計）人: 楊旭;田娜娜;王徐鵬;任志勇;丁曉源;黃正園
• 申請（專利權）人: 上海中航光電子有限公司;天馬微電子股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

1.一種顯示面板的檢測方法，所述顯示面板包括：多個像素單元，所述像素單元包括沿第一方向相鄰的第一像素單元和第二像素單元，所述第一像素單元和第二像素單元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之間，其中，該方法包括：

給所述第一像素單元中的第一子像素和第三子像素提供第一電平信號，并給所述第一像素單元中的第二子像素提供第二電平信號；

給所述第二像素單元中的第一子像素和第三子像素提供第二電平信號，并給所述第二像素單元中的第二子像素提供第一電平信號；

對相鄰子像素間的短路情況進行檢測；

其中，所述第一電平信號與所述第二電平信號的電性不同。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，該方法還進一步包括：

給所述第一像素單元中的第一子像素和第三子像素提供第一電平信號，并給所述第一像素單元中的第二子像素提供第二電平信號；

給所述第二像素單元中的第一子像素和第三子像素提供第一電平信號，并給所述第二像素單元中的第二子像素提供第二電平信號；

對各子像素的斷路情況進行檢查。

3.根據權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，所述第一電平信號為正信號，第二電平信號為負信號；或所述第一電平信號為負信號，第二電平信號為正信號。

4.一種顯示面板的檢測電路，所述顯示面板包括多個像素單元，所述像素單元包括沿第一方向相鄰的第一像素單元和第二像素單元，所述第一像素單元和第二像素單元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之間，其中，所述檢測電路包括：

輸出端與所述第一像素單元中第一子像素的源極直接相連的第一信號源；

輸出端與所述第一像素單元中第二子像素的源極直接相連的第二信號源；

輸出端與所述第一像素單元中第三子像素的源極直接相連的第三信號源；

輸出端與所述第二像素單元中第一子像素的源極直接相連的第一選擇器，所述第一選擇器的第一輸入端與第一信號源相連，第二輸入端與所述第二信號源相連；

輸出端與所述第二像素單元中第二子像素的源極直接相連的第二選擇器，所述第二選擇器的第一輸入端與第二信號源相連，第二輸入端與第一信號源或第三信號源相連；

輸出端與所述第二像素單元中第三子像素的源極直接相連的第三選擇器，所述第三選擇器的第一輸入端與所述第三信號源相連，第二輸入端與第二信號源相連；

其中，所述第一信號源和第三信號源輸出第一電平信號，所述第二信號源輸出第二電平信號，且所述第一電平信號和第二電平信號的電性相反。

5.根據權利要求4所述的檢測電路，其特征在于，所述第一選擇器、第二選擇器和第三選擇器為單刀雙擲開關。

6.根據權利要求4所述的檢測電路，其特征在于，所述第一選擇器、第二選擇器和第三選擇器為二選一選擇器或繼電器。

7.根據權利要求6所述的檢測電路，其特征在于，所述二選一選擇器包括：

第一薄膜晶體管和第二薄膜晶體管，所述第一薄膜晶體管的柵極和所述第二薄膜晶體管的柵極相連，為所述二選一選擇器的控制信號輸入端，所述第一薄膜晶體管的漏極通過第二電阻接地，源極通過第一電阻與第二薄膜晶體管的漏極相連，所述第二薄膜晶體管的源極直接接地；

第四信號源，所述第四信號源與所述第一薄膜晶體管的源極相連，且通過所述第一電阻與所述第二薄膜晶體管的漏極相連；

第三薄膜晶體管和第四薄膜晶體管，所述第三薄膜晶體管的源極為所述二選一選擇器的第一輸入端，柵極與所述第一薄膜晶體管的漏極相連，并通過所述第二電阻接地，所述第四薄膜晶體管的源極為所述二選一選擇器的第二輸入端，柵極通過所述第一電阻與所述第四信號源相連，并且與所述第二薄膜晶體管的漏極相連，所述第三薄膜晶體管的漏極與所述第四薄膜晶體管的漏極相連，為所述二選一選擇器的輸出端。

8.根據權利要求6或7所述的檢測電路，其特征在于，還包括：分別與所述第一選擇器、第二選擇器和第三選擇器控制信號輸入端相連的控制裝置。

9.根據權利要求8所述的檢測電路，其特征在于，所述控制裝置包括：

與所述第一選擇器、第二選擇器和第三選擇器控制信號輸入端相連的第一開關；

與所述第一開關輸入端相連的控制信號源。