[發明專利]顯示面板的缺陷檢測方法及缺陷檢測裝置

有效

• 申請號: 201310752733.6
• 申請日: 2013-12-31
• 公開（公告）號: CN103760165A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: 黃海波
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G02F1/13;G06T7/00
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304
• 代理人: 楊林;李友佳

1.一種顯示面板的缺陷檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

A）獲取顯示面板的邊緣圖像及所述邊緣圖像中每個像素的灰階值；

B）在所述邊緣圖像中選擇一特定區域，并獲得所述特定區域中的每個像素的灰階值；

C）對所述特定區域中的所有像素的灰階值取平均值，以得到所述特定區域中的所有像素的平均灰階值；

D）基于得到的所述平均灰階值對所述特定區域中的每個像素的灰階值進行二值化處理，以獲得若干分界線，其中，所述分界線上的像素的灰階值與除所述分界線上的像素之外的其它像素的灰階值不同；

E）過濾所述若干分界線中的水平線和垂直線，以得到若干剩余的分界線；

F）對所述若干剩余的分界線壓缺陷規格線，當所述剩余的分界線的寬度不小于所述缺陷規格線的寬度時，確定所述剩余的分界線為缺陷線。

2.根據權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，還包括步驟：

G）當所述剩余的分界線的寬度小于所述缺陷規格線的寬度時，確定所述剩余的分界線不為缺陷線。

3.根據權利要求1或2所述的缺陷檢測方法，其特征在于，在所述步驟D）中，所述“基于得到的所述平均灰階值來對所述特定區域中的每個像素的灰階值進行二值化處理”的具體實現方式為：將所述特定區域中的每個像素的灰階值與所述平均灰階值進行比較；其中，當所述特定區域中的某個像素的灰階值不小于所述平均灰階值時，將該某個像素的灰階值設置為“1”，當所述特定區域中的某個像素的灰階值小于所述平均灰階值時，將該某個像素的灰階值設置為“0”。

4.根據權利要求1或2所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述分界線的寬度與每個所述像素的寬度相同。

5.根據權利要求3所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述分界線的寬度與每個所述像素的寬度相同。

6.一種顯示面板的缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

圖像獲取單元（201），被配置為獲取顯示面板的邊緣圖像及所述邊緣圖像中每個像素的灰階值；

選擇單元（202），被配置為在所述邊緣圖像中選擇一特定區域，并獲得所述特定區域中的每個像素的灰階值；

計算單元（203），被配置為對所述特定區域中的所有像素的灰階值取平均值，以得到所述特定區域中的所有像素的平均灰階值；

二值化處理單元（204），被配置為基于得到的所述平均灰階值對所述特定區域中的每個像素的灰階值進行二值化處理，以獲得若干分界線，其中，所述分界線上的像素的灰階值與除所述分界線上的像素之外的其它像素的灰階值不同；

過濾單元（205），被配置為過濾所述若干分界線中的水平線和垂直線，以得到若干剩余的分界線；

缺陷判斷單元（206），被配置為判斷所述剩余的分界線的寬度是否小于所述缺陷規格線的寬度；

缺陷確定單元（207），被配置為當所述缺陷判斷單元（206）判斷為所述剩余的分界線的寬度不小于所述缺陷規格線的寬度時，確定所述剩余的分界線為缺陷線。

7.根據權利要求6所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，當所述缺陷判斷單元（206）判斷所述剩余的分界線的寬度小于所述缺陷規格線的寬度時，所述缺陷確定單元（207）確定所述剩余的分界線不為缺陷線。

8.根據權利要求6或7所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述二值化處理單元（204）對所述特定區域中的每個像素的灰階值與所述平均灰階值進行比較；

其中，當所述特定區域中的某個像素的灰階值不小于所述平均灰階值時，所述二值化處理單元將該某個像素的灰階值設置為“1”，當所述特定區域中的某個像素的灰階值小于所述平均灰階值時，所述二值化處理單元將該某個像素的灰階值設置為“0”。

9.根據權利要求6或7所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述分界線的寬度與每個所述像素的寬度相同。

10.根據權利要求8所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述分界線的寬度與每個所述像素的寬度相同。