[發(fā)明專利]一種掩膜板及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310752500.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-12-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103668056A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝志生;丁濤;蘇君海;柯賢軍;何基強(qiáng);李建華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 信利半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | C23C14/04 | 分類號(hào): | C23C14/04 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 516600 廣東省汕尾*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 掩膜板 及其 制作方法 | ||
1.一種掩膜板制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1:提供基板;
S2:減薄所述基板的中部區(qū)域,形成掩膜區(qū)域,未減薄區(qū)域形成掩膜框;
S3:對(duì)掩膜區(qū)域中待形成掩膜圖案塊的區(qū)域進(jìn)行刻蝕,形成掩膜通孔和掩膜線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩膜板制作方法,其特征在于,步驟S2和步驟S3之間還包括:
S21:減薄所述掩膜區(qū)域中待形成掩膜圖案塊的區(qū)域,以在未減薄區(qū)域形成支撐條。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的掩膜板制作方法,其特征在于,步驟S21中的所述減薄的過(guò)程具體為對(duì)所述掩膜區(qū)域中待形成掩膜圖案塊的區(qū)域進(jìn)行刻蝕,僅去除部分掩膜區(qū)域材料,以對(duì)待形成掩膜圖案塊區(qū)域進(jìn)行減薄。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩膜板制作方法,其特征在于,步驟S2中的減薄工藝為機(jī)械加工的切削工藝或磨切工藝。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩膜板制作方法,其特征在于,步驟S3具體包括:
在所述掩膜區(qū)域的第一表面進(jìn)行第一次半刻蝕,在需要形成掩膜通孔的地方形成凹槽;
在所述掩膜區(qū)域與所述第一表面相對(duì)的第二表面進(jìn)行第二次半刻蝕,將所述掩膜區(qū)域的第二表面上與所述凹槽對(duì)應(yīng)的位置刻蝕至形成掩膜通孔。
6.一種掩膜板,其特征在于,包括:掩膜和位于所述掩膜外圍的掩膜框,其中,所述掩膜板采用權(quán)利要求1-5任意一項(xiàng)所述的掩膜板制作方法制作形成。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的掩膜板,其特征在于,所述掩膜板的掩膜框厚度范圍為5mm-20mm,包括端點(diǎn)值。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的掩膜板,其特征在于,所述掩膜包括掩膜圖案塊和支撐條,其中所述支撐條位于所述掩膜圖案塊外的區(qū)域,且所述支撐條的厚度大于所述掩膜圖案塊的掩膜線厚度。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的掩膜板,其特征在于,所述支撐條的厚度范圍為1mm-2mm,包括端點(diǎn)值。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的掩膜板,其特征在于,所述支撐條的邊緣與所述掩膜圖案塊的邊緣之間的距離大于0.5mm。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的掩膜板,其特征在于,所述掩膜圖案塊中掩膜線的厚度范圍為0.03mm-0.1mm,包括端點(diǎn)值。
12.根據(jù)權(quán)利要求6-11任意一項(xiàng)所述的掩膜板,其特征在于,所述掩膜板的材質(zhì)為金屬、或金屬合金、或不銹鋼。
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過(guò)覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理





