[發明專利]電源壽命時間檢測方法和系統

在審

• 申請號: 201310752176.8
• 申請日: 2013-12-31
• 公開（公告）號: CN103675712A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 章曉文;何小琦;恩云飛
• 申請（專利權）人: 工業和信息化部電子第五研究所
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王茹;曾旻輝

1.一種電源壽命檢測方法，其特征在于，包括步驟：

獲取高溫試驗中每個電源的有效試驗時長，并計算各個待測電源的總試驗時間；其中，所述高溫試驗為多個相同型號待測電源在預設高溫下進行運行的試驗；

當試驗過程中有故障電源時，獲取試驗過程中故障電源的個數，根據所述總試驗時長與所述故障電源的個數比值獲得平均故障間隔時間；

采用公式計算溫度加速系數，其中，A_t表示溫度加速系數，T_use表示待測電源工作條件下的環境溫度，T_test表示預設高溫溫度，K表示波爾茲曼常數，Ea表示激活能；

從預設的置信因子表中查找置信因子，將所述置信因子、所述加速系數和所述平均故障間隔時間相乘獲得待測電源工作壽命時間。

2.根據權利要求1所述的電源壽命檢測方法，其特征在于，所述獲取試驗過程中故障電源的個數步驟，包括：

確定試驗過程中的故障電源，將故障電源按照故障損壞程度進行劃分等級；

將不同等級的故障電源數量對應與各自等級故障系數相乘，并將各乘積結果求和得到故障電源個數。

3.根據權利要求1所述的電源壽命檢測方法，其特征在于，所述計算各個待測電源的總試驗時間包括以下公式：

T=(n-r)t+Σi=1rti]]>

其中，T表示總試驗時間，n表示試驗的待測電源個數，r表示發生故障的電源個數，t表示試驗截止時長，t_i表示故障電源i失效前試驗時間。

4.根據權利要求1所述的電源壽命檢測方法，其特征在于，當試驗過程中無故障電源時，獲取該電源的置信度，并采用以下公式確定電源壽命時間：

τ=Tln1/β×At]]>

其中，τ表示電源壽命時間，T表示總試驗時間，β表示置信度，A_t表示溫度加速系數。

5.根據權利要求1至3任一項所述的電源壽命檢測方法，其特征在于，所述從預設的置信因子表中查找置信因子步驟之前，還包括：

獲取待測電源的置信度；

根據所述置信度和故障電源的個數確定置信因子；

根據各待測電源的置信因子與故障電源個數之間的關系建立置信因子表。

6.一種電源壽命檢測系統，其特征在于，包括：

試驗時間獲取模塊，用于獲取高溫試驗中每個電源的有效試驗時間，并計算各個待測電源的總試驗時間；其中，所述高溫試驗為多個相同型號待測電源在預設高溫下進行運行的試驗；

故障電源個數獲取模塊，用于當試驗過程中有故障電源時，獲取試驗過程中故障電源的個數；

平均故障間隔時間確定模塊，用于根據所述總試驗時長與所述故障電源的個數比值獲得平均故障間隔時間；

溫度加速系數計算模塊，用于采用公式計算溫度加速系數，其中，A_t表示溫度加速系數，T_use表示待測電源工作條件下的環境溫度，T_test表示預設高溫溫度，K表示波爾茲曼常數，Ea表示激活能；

第一電源工作壽命時間確定模塊，用于從預設的置信因子表中查找置信因子，將所述置信因子、所述加速系數和所述平均故障間隔時間相乘獲得待測電源工作壽命時間。