[發明專利]一種天線測試的方法和系統、以及無線終端有效
| 申請號: | 201310750806.8 | 申請日: | 2013-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN103728502B | 公開(公告)日: | 2017-12-22 |
| 發明(設計)人: | 陳揚邦 | 申請(專利權)人: | 華為終端(東莞)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;H04B17/00 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 523808 廣東省東莞市松山湖高新技術產業開*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 天線 測試 方法 系統 以及 無線 終端 | ||
1.一種天線測試的方法,應用于無線終端,所述無線終端包括天線,其特征在于,所述無線終端還包括測試電路,所述測試電路的一端電連接所述天線,另一端電連接所述無線終端外部的測試設備,所述方法包括:
所述測試電路接收所述測試設備發出的測試信號,并將所述測試信號傳輸給所述天線;
所述測試電路接收由所述天線反射的與所述測試信號對應的反射信號,并將所述反射信號傳輸給所述測試設備,以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數;
其中,所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外,所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述測試電路包括高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述參數包括至少一種以下參數:回波損耗、電壓駐波比。
4.一種無線終端,所述無線終端包括天線,其特征在于,所述無線終端還包括測試電路,所述測試電路的一端電連接天線,另一端電連接所述無線終端外部的測試設備;
所述測試電路,用于接收并將所述測試設備發出的測試信號傳輸給所述天線;
所述天線,用于接收所述測試信號,并反射與所述測試信號對應的反射信號;
所述測試電路還用于:接收并將所述天線的反射信號傳輸給所述測試設備,以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數;
其中,所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外,所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
5.根據權利要求4所述的無線終端,其特征在于,所述測試電路包括高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。
6.根據權利要求5所述的無線終端,其特征在于,所述測試電路包括至少一組測試電路,所述天線為至少一根天線,所述測試電路與所述天線一一對應,且所述測試電路的通頻帶在其所對應的天線的工作頻帶之外;
所述測試電路,用于接收并將所述測試設備發出的測試信號傳輸給對應的天線;
所述天線,用于接收所述測試信號,并反射與所述測試信號對應的反射信號;
所述測試電路還用于:接收并將對應的天線的反射信號傳輸給所述測試設備,以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
7.根據權利要求5所述的無線終端,其特征在于,所述測試電路為一個通頻帶可調的測試電路,所述天線為多根天線;
所述測試電路,用于接收并將所述測試設備發出的測試信號傳輸給待測天線,所述待測天線為所述多根天線中當前正在測試的天線;
所述待測天線,用于接收所述測試信號,并反射與所述測試信號對應的反射信號;
所述測試電路還用于:接收并將所述待測天線的反射信號傳輸給所述測試設備,以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數;
其中,所述測試電路的通頻帶調整位于所述待測天線的工作頻帶之外。
8.根據權利要求4至7任一所述的無線終端,其特征在于,所述無線終端還包括接口,用于電連接所述測試電路與所述測試設備。
9.一種天線測試的系統,包括無線終端和測試設備,所述無線終端包括天線,其特征在于,所述無線終端還包括測試電路,所述測試電路的一端電連接所述天線,另一端電連接所述測試設備;
所述測試設備發出測試信號;
所述測試電路接收并將所述測試信號傳輸給所述天線;
所述天線接收所述測試信號,并反射與所述測試信號對應的反射信號;
所述測試電路接收并將所述反射信號傳輸給所述測試設備;
所述測試設備接收所述反射信號并根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數;
其中,所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外,所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
10.根據權利要求9所述的系統,其特征在于,所述系統還包括調諧電路,所述調諧電路的一端電連接所述測試電路,另一端電連接所述測試設備;
所述調諧電路用于:優化所述反射信號。
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