[發(fā)明專利]晶體振蕩器波形參數(shù)自動(dòng)測量系統(tǒng)和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310743547.6
• 申請日: 2013-12-27
• 公開（公告）號: CN103698639A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李坤然;張立林;林惠嫻;王春明
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東大普通信技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

1.一種晶體振蕩器波形參數(shù)自動(dòng)測量系統(tǒng)，其特征在于，包括：測量控制單元、數(shù)字示波器和晶振測量單元，其中，所述測量控制單元分別與所述數(shù)字示波器和所述晶振測量單元相連，所述數(shù)字示波器與所述晶振測量單元相連，所述晶振測量單元與至少兩個(gè)待測晶體振蕩器相連；

所述測量控制單元，用于向所述晶振測量單元發(fā)送晶振選擇信號，控制所述晶振測量單元將與所述晶振選擇信號對應(yīng)的待測晶體振蕩器與所述數(shù)字示波器相連接；接收所述數(shù)字示波器發(fā)送的采樣序列；對所述采樣序列進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，獲取當(dāng)前測量的待測晶體振蕩器的波形參數(shù)；

所述晶振測量單元，用于為所述至少兩個(gè)待測晶體振蕩器供電，根據(jù)接收的晶振選擇信號，將與所述晶振選擇信號對應(yīng)的待測晶體振蕩器與所述數(shù)字示波器相連；

所述數(shù)字示波器，用于獲取相連接的待測晶體振蕩器的振蕩波形的采樣序列，將所述采樣序列通過自身的通信接口發(fā)送至所述測量控制單元。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體振蕩器波形參數(shù)自動(dòng)測量系統(tǒng)，其特征在于，所述晶振測量單元中具體包括多路選擇器，其中，

所述多路選擇器的數(shù)據(jù)選擇端與所述測量控制單元相連、用于接收所述測量控制單元發(fā)送的所述晶振選擇信號；

所述多路選擇器的輸入端與所述至少兩個(gè)待測晶體振蕩器的信號輸出端相連；

所述多路選擇器的輸出端與所述數(shù)字示波器的信號測試端相連，用于將與所述晶振選擇信號對應(yīng)的待測晶體振蕩器與所述數(shù)字示波器相連。

3.一種晶體振蕩器波形參數(shù)自動(dòng)測量方法，應(yīng)用于權(quán)利要求1-2任一所述的晶體振蕩器波形參數(shù)自動(dòng)測量系統(tǒng)中，其特征在于，包括：

所述測量控制單元向晶振測量單元發(fā)送晶振選擇信號，控制所述晶振測量單元將與所述晶振選擇信號對應(yīng)的待測晶體振蕩器與所述數(shù)字示波器相連接；

所述測量控制單元接收所述數(shù)字示波器發(fā)送的采樣序列；

所述測量控制單元根據(jù)所述采樣，獲取當(dāng)前測量的待測晶體振蕩器的波形參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶體振蕩器波形參數(shù)自動(dòng)測量方法，其特征在于，獲取的當(dāng)前測量的待測晶體振蕩器的波形參數(shù)具體包括：振蕩波形、和/或與波形幅度相關(guān)的波形參數(shù)和/或與時(shí)間相關(guān)的波形參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶體振蕩器波形參數(shù)自動(dòng)測量方法，其特征在于，所述與波形幅度相關(guān)的波形參數(shù)具體包括：最大值、最小值、頂值、平均值、峰峰值和均方根值中的至少一個(gè)。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶體振蕩器的波形參數(shù)自動(dòng)測量方法，其特征在于，所述與時(shí)間相關(guān)的波形參數(shù)具體包括：頻率、周期、上升時(shí)間、下降時(shí)間、正脈寬、負(fù)脈寬和占空比中的至少一個(gè)。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶體振蕩器的波形參數(shù)自動(dòng)測量方法，其特征在于，所述根據(jù)所述采樣序列，獲取當(dāng)前測量的待測晶體振蕩器的波形參數(shù)之后，所述方法還包括：

當(dāng)所述獲取的波形參數(shù)屬于標(biāo)準(zhǔn)波形參數(shù)范圍內(nèi)時(shí)，確定所述當(dāng)前測量的待測晶體振蕩器合格。

8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶體振蕩器的波形參數(shù)自動(dòng)測量方法，其特征在于，所述根據(jù)所述采樣序列，獲取當(dāng)前測量的待測晶體振蕩器的波形參數(shù)之后，所述方法還包括：將當(dāng)前測量的待測晶體振蕩器的編號與所述當(dāng)前測量的待測晶體振蕩器的波形參數(shù)對應(yīng)存儲。