[發明專利]熱電阻開路檢測方法

有效

• 申請號: 201310741680.8
• 申請日: 2013-12-30
• 公開（公告）號: CN103698652A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 姜鐵梅;孫旭華;熊磊;杜圓芝
• 申請（專利權）人: 上海自動化儀表股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 田申榮

技術領域

?本發明涉及一種工業檢測方法，尤其涉及一種用于控制系統的熱電阻開路檢測方法。

背景技術

熱電阻（thermal?resistor）是中低溫區最常用的一種溫度檢測器。熱電阻測溫是基于金屬導體的電阻值隨溫度的增加而增加這一特性來進行溫度測量的。它的主要特點是測量精度高，性能穩定。其中鉑熱電阻的測量精確度是最高的，它不僅廣泛應用于工業測溫，而且被制成標準的基準儀。

現有技術中通過熱電阻方式來實現檢測的儀表不具備熱電阻開路檢測方法。

發明內容

本發明公開了一種熱電阻開路檢測方法，用以解決現有技術中通過熱電阻方式來實現檢測的儀表不具備熱電阻開路檢測方法的問題。

本發明的上述目的是通過以下技術方案實現的：

一種熱電阻開路檢測方法，其中，包括：一比較器獲取熱電阻形成的電壓，所述比較器將獲取的熱電阻輸出電壓與一參考電壓進行比較，如果熱電阻形成的電壓大于參考電壓，則比較器輸出高電平給處理器；如果熱電阻形成的電壓為0，則比較器輸出低電平給處理器。

如上所述的熱電阻開路檢測方法，其中，處理器獲取比較器輸出的信號，如果處理器獲取高電平，將開路狀態位置0，表示熱電阻未開路；如果處理器獲取低電平，則控制器將開路狀態位置1，表示熱電阻開路。

如上所述的熱電阻開路檢測方法，其中，處理器將開路狀態位發送給控制系統，在控制系統的監控畫面上顯示熱電阻是否開路，如果開路狀態為0，則在控制系統的監控畫面上將開路狀態的燈熄滅；如果開路狀態為1，則在控制系統的監控畫面上將開路狀態的燈點亮。

綜上所述，由于采用了上述技術方案，本發明解決了現有技術中通過熱電阻方式來實現檢測的儀表不具備熱電阻開路檢測方法的問題；本發明也解決了控制系統判斷現場采樣的RTD是否開路的問題。本發明通過比較器比較熱電阻產生的電壓與參考電壓，并輸出信號給處理器實現熱電阻開路的檢測，本發明結構簡單，可以用于檢測儀表中。

附圖說明

圖1是本發明熱電阻開路檢測方法的原理圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明做進一步描述：

圖1是本發明熱電阻開路檢測方法的原理圖，請參見圖1，一種熱電阻開路檢測方法，其中，包括：電流流過熱電阻，在熱電阻上形成一定的電壓，一比較器獲取熱電阻形成的電壓，比較器將獲取的熱電阻輸出電壓與一參考電壓進行比較，如果熱電阻形成的電壓大于參考電壓，則比較器輸出高電平給處理器；如果熱電阻形成的電壓為0，則比較器輸出低電平給處理器，處理器可以通過獲取的信號判斷熱電阻是否開路。

本發明的處理器獲取比較器輸出的信號，如果處理器獲取高電平，將開路狀態位置0，表示熱電阻未開路；如果處理器獲取低電平，則控制器將開路狀態位置1，表示熱電阻開路。

本發明的處理器將開路狀態位發送給控制系統，在控制系統的監控畫面上顯示熱電阻是否開路，如果開路狀態為0,則在控制系統的監控畫面上將開路狀態的燈熄滅；如果開路狀態為1，則在控制系統的監控畫面上將開路狀態的燈點亮。

綜上所述，由于采用了上述技術方案，本發明解決了現有技術中通過熱電阻方式來實現檢測的儀表不具備熱電阻開路檢測方法的問題，本發明通過比較器比較熱電阻產生的電壓與參考電壓，并輸出信號給處理器實現熱電阻開路的檢測，本發明的結構簡單，安裝方便，可以用于儀表檢測儀表中。