[發明專利]一種同時再現多幅全息圖的裝置及再現方法

有效

• 申請號: 201310740991.2
• 申請日: 2013-12-30
• 公開（公告）號: CN103676597B
• 公開（公告）日: 2017-01-25
• 發明（設計）人: 李澤仁;趙宇;羅振雄;葉雁;李作友;劉振清;蒙建華;李軍;朱鵬飛
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院流體物理研究所
• 主分類號: G03H1/12
• 分類號: G03H1/12;G03H1/22
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司51214
• 代理人: 徐宏,吳彥峰

1.一種同時再現多幅全息圖的裝置及再現方法，其特征是：包括以下步驟：

a、將多幅全息圖記錄在同一介質上，在記錄第n幅全息圖時，物光S_n以固定入射角度穿透記錄對象后照射在記錄介質上，參考光R_n以與物光夾角為θ_n的方向照射在記錄介質上；?

b、在記錄第n+1幅全息圖時，物光S_n+1以與物光S_n相同的入射方向照射在記錄介質的相同位置上；參考光R_n+1相對于前一參考光R_n的入射方向加以偏轉，使參考光R_n+1與物光S_n+1的夾角為θ_n+1，相鄰兩幅全息圖所對應的參考光的角度差|θ_n-θ_n+1|大于等于體全息理論關于角度復用技術相關公式給出的最小復用角度；

c、將多幅已經按照上述步驟記錄完成的全息圖進行同時再現：用一平面波E沿記錄全息圖時的物光S_n的入射方向照射在記錄介質上，記錄介質上所記錄的全息圖R_n’所對應的內容以該全息圖R_n’在記錄時所對應的參考光R_n的入射方向在記錄介質后方再現出來；

所述物光S_n、參考光R_n均為平面波。

2.?根據權利要求1所述的一種同時再現多幅全息圖的裝置及再現方法，其特征是：所述記錄介質的厚度大于50μm，參考光R_n與R_n+1為平面波。